[發明專利]配合曲面的基準面確定方法

有效

• 申請號: 201710344922.8
• 申請日: 2017-05-16
• 公開（公告）號: CN107504928B
• 公開（公告）日: 2019-11-22
• 發明（設計）人: 馮勇先;馬俊杰;李俊堂;王少博;陳曦
• 申請（專利權）人: 寶沃汽車(中國)有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00;G01B21/16
• 代理公司: 11447 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 陳慶超;桑傳標<國際申請>=<國際公布>

1.一種配合曲面的基準面確定方法，其特征在于，所述基準面確定方法包括：

模擬確定步驟，通過模擬測量面差值確定第一配合曲面(1)和第二配合曲面(2)中的模擬基準面，

實測選定步驟，通過實物測量面差值確定第一配合曲面(1)和第二配合曲面(2)中的選定基準面，

當所述模擬基準面與所述選定基準面為不同的配合曲面，模擬平移所述第一配合曲面(1)或所述第二配合曲面(2)并重新進行所述模擬確定步驟和所述實測選定步驟，當所述模擬基準面與所述選定基準面為同一配合曲面，確定所述模擬基準面或所述選定基準面為目標基準面。

2.根據權利要求1所述的基準面確定方法，其特征在于，所述模擬確定步驟包括在三維軟件中創建同時截取所述第一配合曲面(1)和所述第二配合曲面(2)的剖面(3)，所述剖面(3)與第一配合曲面(1)和第二配合曲面(2)的配合間隙相垂直，所述模擬測量面差值在所述剖面(3)中獲取。

3.根據權利要求2所述的基準面確定方法，其特征在于，所述模擬確定步驟包括：在所述剖面(3)中，以第一配合曲面(1)為基準，測量第一配合曲面(1)與第二配合曲面(2)的第一面差測量值(h₁)，以第二配合曲面(2)為基準，測量第一配合曲面(1)與第二配合曲面(2)的第二面差測量值(h₂)，

計算所述第一面差測量值(h₁)與面差預設值(h)的第一差值(Δh₁)和所述第二面差測量值(h₂)與面差預設值(h)的第二差值(Δh₂)，當所述第一差值(Δh₁)的絕對值小于或等于所述第二差值(Δh₂)的絕對值，確定第一配合曲面(1)為模擬基準面，當所述第一差值(Δh₁)的絕對值大于所述第二差值(Δh₂)的絕對值，確定第二配合曲面(2)為模擬基準面。

4.根據權利要求2所述的基準面確定方法，其特征在于，所述模擬確定步驟包括：創建多個所述剖面(3)，在每個所述剖面(3)中，以第一配合曲面(1)為基準，測量第一配合曲面(1)與第二配合曲面(2)之間的第一面差測量值(h₁)，以第二配合曲面(2)為基準，測量第一配合曲面(1)與第二配合曲面(2)之間的第二面差測量值(h₂)，

計算多個所述第一面差測量值(h₁)的第一面差平均值(h_1v)與面差預設值(h)的第一平均差值(Δh_1v)，計算多個所述第二面差測量值(h₂)的第二面差平均值(h_2v)與面差預設值(h)的第二平均差值(Δh_2v)，當所述第一平均差值(Δh_1v)的絕對值小于或等于所述第二平均差值(Δh_2v)的絕對值，確定第一配合曲面(1)為模擬基準面，當所述第一平均差值(Δh_1v)的絕對值大于所述第二平均差值(Δh_2v)的絕對值，確定第二配合曲面(2)為模擬基準面。

5.根據權利要求3或4所述的基準面確定方法，其特征在于，測量所述第一面差測量值(h₁)包括：

選取所述第一配合曲面(1)的R角的切點為第一切點(a1)，選取所述第一配合曲面(1)上與所述第一切點(a1)相距第一長度的第一基點(b1)，

通過第一切點(a1)和第一基點(b1)生成延伸到所述第二配合曲面(2)的第一直線(c1)，

選取所述第二配合曲面(2)的R角的切點為第二切點(a2)，所述第二切點(a2)到所述第一直線(c1)的垂直距離為所述第一面差測量值(h₁)。