[發明專利]一種基于AOI的顯示面板缺陷分類方法及裝置

有效

• 申請號: 201710343750.2
• 申請日: 2017-05-16
• 公開（公告）號: CN107290345B
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 呂東東;張勝森;鄧標華
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種基于AOI的顯示面板缺陷分類方法及裝置，其包括：1)采集顯示面板的顯示畫面，并提取該顯示畫面的缺陷特征屬性向量d；2)提供一缺陷特征屬性描述集合M，該缺陷特征屬性描述集合M包括多種缺陷類型的特征屬性描述向量m；將該缺陷特征屬性向量d分別與每種缺陷類型的特征屬性描述向量m進行卷積，生成一組卷積值；其中，最大的卷積值對應的缺陷類型即為該缺陷特征屬性向量d的缺陷類型。本發明通過自動提取顯示面板的缺陷特征信息，及自動識別顯示缺陷的數量及類型，實現了顯示面板的缺陷識別、等級判定的自動化程度，能極大的提升顯示面板缺陷識別和等級判定的檢測效率和精確度。

技術領域

本發明涉及顯示面板檢測技術領域，具體涉及到一種基于AOI的顯示面板缺陷分類方法及裝置。

背景技術

平面顯示器具有高分辨率、高灰度以及無幾何變形等優點，同時由于其體積小、重量輕和功耗低，因而被廣泛的應用在人們日常使用的消費電子產品中，例如電視、電腦、手機、平板等。顯示面板是平面顯示器具的主體組成部分，其制造工藝復雜，而且隨著顯示面板的尺寸越做越大，其灰度的均勻性也越來越難控制，因此在制造過程中難免會出現各種顯示缺陷，如亮點/暗點/異物亮/BL異物(背光異物)/白點/亮暗線/Mura等顯示缺陷。

目前，顯示面板產線上一般采用肉眼識別顯示缺陷數量及類型的方式對顯示面板進行等級判定，檢測效率低、誤檢率高。

發明內容

針對上述現有技術的不足，本發明公開一種基于AOI的顯示面板缺陷分類方法及裝置，通過自動提取顯示面板的缺陷特征信息，及自動識別顯示缺陷的數量及類型，實現了顯示面板的缺陷識別、等級判定的自動化程度，能極大的提升顯示面板缺陷識別和等級判定的檢測效率和精確度。

為實現上述目的，本發明提供一種基于AOI的顯示面板缺陷分類方法，包括以下步驟：

1)采集顯示面板的顯示畫面，并提取該顯示畫面的缺陷特征屬性向量d；

2)提供一缺陷特征屬性描述集合M，該缺陷特征屬性描述集合M包括多種缺陷類型的特征屬性描述向量m；將該缺陷特征屬性向量d分別與每種缺陷類型的特征屬性描述向量m進行乘積，生成一組乘積值；其中，

最大的乘積值對應的缺陷類型即為該缺陷特征屬性向量d的缺陷類型。

進一步地，上述技術方案采用以下公式進行乘積計算：

其中，m_i是特征屬性描述向量m(m₁,m₂,…m_n)(0＜m_i＜1)中的元素，為描述缺陷特征信息的加權因子，特征屬性描述向量m轉換成矩陣參與乘積計算；d_i是缺陷特征屬性向量d(d₁,d₂,…d_n)中的元素，為各缺陷特征的實際值，缺陷特征屬性向量d轉換成列向量參與乘積計算。

更進一步地，上述技術方案中將該缺陷特征屬性向量d分別與每種缺陷類型的特征屬性描述向量m進行乘積替換成以下步驟：

提供一缺陷特征屬性梯度系數集合G，該缺陷特征屬性梯度系數集合G包括多種缺陷類型的特征屬性梯度范圍α_ij及與該多種缺陷類型的特征屬性梯度范圍α_ij一一對應的梯度系數因子β_ij；將該缺陷特征屬性向量d分別代入到每一種缺陷類型的特征屬性梯度范圍α_ij中，得到多組梯度系數因子向量β；

將該多組梯度系數因子向量β分別與對應缺陷類型的特征屬性描述向量m進行乘積。

更進一步地，上述技術方案采用以下公式進行乘積計算：