[發明專利]一種基于AOI的顯示面板缺陷分類方法及裝置

有效

• 申請號: 201710343750.2
• 申請日: 2017-05-16
• 公開（公告）號: CN107290345B
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 呂東東;張勝森;鄧標華
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于AOI的顯示面板缺陷分類方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)采集顯示面板的純色顯示畫面，并提取該純色顯示畫面的缺陷特征屬性向量d，所述純色顯示畫面至少包括R或G或B純色圖；

2)提供一缺陷特征屬性描述集合M，該缺陷特征屬性描述集合M包括多種缺陷類型的特征屬性描述向量m，所述m為描述一缺陷類型的缺陷特征信息的加權因子的集合；提供一缺陷特征屬性梯度系數集合G，該缺陷特征屬性梯度系數集合G包括多種缺陷類型的特征屬性梯度范圍α_ij及與該多種缺陷類型的特征屬性梯度范圍α_ij一一對應的梯度系數因子β_ij；將該缺陷特征屬性向量d分別代入到每一種缺陷類型的特征屬性梯度范圍α_ij中，得到多組梯度系數因子向量β；

將該多組梯度系數因子向量β分別與對應缺陷類型的特征屬性描述向量m進行乘積，生成一組乘積值；其中，

最大的乘積值對應的缺陷類型即為該缺陷特征屬性向量d的缺陷類型；

3)根據缺陷特征屬性向量d的數量及其對應的缺陷類型判定該顯示面板的等級。

2.根據權利要求1所述的顯示面板缺陷分類方法，其特征在于，采用以下公式進行乘積計算：

其中，m_i是特征屬性描述向量m(m₁,m₂,…m_n)(0＜m_i＜1)中的元素；β_i是梯度系數因子向量β(β₁,β₂,…β_n)(0＜β_i＜1)中的元素，梯度系數因子向量β轉換成列向量參與乘積計算。

3.根據權利要求1-2任一項所述的顯示面板缺陷分類方法，其特征在于，還包括以下步驟：從該顯示畫面中提取多組缺陷特征屬性向量d，分別獲得每一組缺陷特征屬性向量d的缺陷類型，并根據缺陷特征屬性向量d的數量及其對應的缺陷類型判定該顯示面板的等級。

4.根據權利要求1-2任一項所述的顯示面板缺陷分類方法，其特征在于，缺陷特征包括畫面名稱、和/或面積、和/或長、和/或寬、和/或長寬比、和/或中心灰度、和/或對比度、和/或坐標。

5.一種采用權利要求1-2任一項所述的顯示面板缺陷分類方法的裝置，其特征在于，該裝置包括：

圖像算法處理模塊，用于從顯示面板的顯示畫面中提取缺陷特征屬性向量d；

缺陷分類器學習模塊，用于提供缺陷特征屬性描述集合M；

缺陷分類模塊，用于根據缺陷特征屬性描述集合M獲得缺陷特征屬性向量d的缺陷類型；

該缺陷分類器學習模塊還用于提供缺陷特征屬性梯度系數集合G；該缺陷分類模塊還用于根據缺陷特征屬性梯度系數集合G及缺陷特征屬性描述集合M獲得缺陷特征屬性向量d的缺陷類型。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括：

圖像采集模塊，用于采集該顯示面板的顯示畫面；

缺陷等級判定模塊，用于根據缺陷特征屬性向量d的數量及其對應的缺陷類型判定該顯示面板的等級。