[發明專利]一種用于對測定的伊利石結晶度值的新型校正方法

在審

• 申請號: 201710337399.6
• 申請日: 2017-05-15
• 公開（公告）號: CN107144585A
• 公開（公告）日: 2017-09-08
• 發明（設計）人: 劉三
• 申請（專利權）人: 中國地質調查局西安地質調查中心
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20;G01N1/28
• 代理公司: 西安長和專利代理有限公司61227
• 代理人: 黃偉洪

1.一種用于對測定的伊利石結晶度值的新型校正方法，其特征在于，所述用于對測定的伊利石結晶度值的新型校正方法包括：

選用日本理學、布魯克、帕納科、遼寧丹東四種儀器進行伊利石國際標準樣品的測定，通過對儀器功率和光學系統的組合調整尋找和確定不同廠家儀器最接近標準值的測試條件；測試條件的確定方法為：將原巖破碎至1mm，用去離子水浸泡24小時～48小時，若懸浮，根據斯托克斯定理提取小于2μm懸浮液進行離心、濃縮；若不懸浮，進行絡合法或稀酸法或加分散劑處理，反復洗滌直到懸浮狀態，然后離心、濃縮；在水浴鍋上干燥；

根據儀器所測的伊利石標準樣品實測值與標準值利用最小二乘法計算該儀器的校正方程；樣品制備方法為：稱取在水浴鍋上干燥后的粘土分離樣品40mg置于10ml試管中，加約0.7ml蒸餾水，用超聲波振蕩成懸浮液后，滴在干凈的載玻片上，自然風干，制備成粘土礦物定向片。

2.如權利要求1所述的用于對測定的伊利石結晶度值的新型校正方法，其特征在于，所述用于對測定的伊利石結晶度值的新型校正方法采用的不同廠家儀器測試條件包括：

日本理學的測試條件為：

Cu-Ka靶；

電壓：40Kv；

電流：100mA；

狹縫：DS＝SS＝1°；

RS＝0.3mm；

掃描速度：2°(2θ)/min；

粘土：<2um；

帕納科的測試條件為：

Cu-Ka靶；

電壓：40Kv；

電流：40mA；

狹縫：DS＝SS＝1/4°；

RS＝1/8°；

掃描速度：1°(2θ)/min；

粘土：<2um；

布魯克的測試條件為：

Cu-Ka靶；

電壓：40Kv；

電流：40mA；

狹縫：DS＝SS＝1°；

RS＝0.4°；

掃描速度：1°(2θ)/min；

粘土：<2um；

遼寧丹東的測試條件：Cu-Ka靶；

電壓：40Kv；

電流：40mA；

狹縫：DS＝SS＝1°；

RS＝0.2mm；

掃描速度：1°(2θ)/min；

粘土：<2um。