[發明專利]一種電極制作方法及陣列基板的制作方法在審
| 申請號: | 201710336009.3 | 申請日: | 2017-05-12 |
| 公開(公告)號: | CN107104044A | 公開(公告)日: | 2017-08-29 |
| 發明(設計)人: | 宮奎;許徐飛 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/3213 | 分類號: | H01L21/3213;H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電極 制作方法 陣列 | ||
1.一種電極制作方法,其特征在于,包括:
在基板上形成銅金屬層;
在所述銅金屬層上形成第一難熔金屬隔離層;
在所述第一難熔金屬隔離層上形成與光刻膠掩膜層;
利用所述光刻膠掩膜層,對所述第一難熔金屬隔離層進行濕法刻蝕,形成第一難熔金屬電極圖形;
對所述光刻膠掩膜層進行軟化處理,得到覆蓋所述第一難熔金屬電極圖形的側壁的抗刻蝕層;
以所述抗刻蝕層作為掩膜,對所述銅金屬層進行濕法刻蝕,形成銅電極圖形;
去除所述抗刻蝕層,形成包括所述第一難熔金屬電極圖形和所述銅電極圖形的目標電極。
2.根據權利要求1所述的電極制作方法,其特征在于,所述光刻膠掩膜層的材料為正性有機樹脂。
3.根據權利要求1或2所述的電極制作方法,其特征在于,對所述光刻膠掩膜層進行軟化處理的具體步驟包括:
在所述光刻膠掩膜層上噴淋溫度為150℃~200℃的磷酸,加熱所述光刻膠掩膜層,使所述光刻膠掩膜層軟化。
4.根據權利要求1或2所述的電極制作方法,其特征在于,對所述光刻膠掩膜層進行軟化處理的具體步驟包括:
將所述基板移至真空或充滿惰性氣體的加熱腔室中,對所述基板進行加熱,使所述基板的溫度為150℃~200℃,加熱所述光刻膠掩膜層,使所述光刻膠掩膜層軟化。
5.根據權利要求1所述的電極制作方法,其特征在于,所述第一難熔金屬隔離層的材料包含鉬或鈦。
6.根據權利要求1所述的電極制作方法,其特征在于,當所述目標電極為源極、漏極、數據線、像素電極或公共電極時,在基板上形成銅金屬層之前,所述電極制作方法還包括:在所述基板上形成第二難熔金屬隔離層。
7.根據權利要求6所述的電極制作方法,其特征在于,形成銅電極圖形之后,去除所述抗刻蝕層之前,所述電極制作方法還包括:以所述抗刻蝕層作為掩膜,對所述第二難熔金屬隔離層進行濕法刻蝕,形成第二難熔金屬電極圖形。
8.根據權利要求6或7所述的電極制作方法,其特征在于,所述第二難熔金屬隔離層的材料包含鉬或鈦。
9.根據權利要求1所述的電極制作方法,其特征在于,所述目標電極為柵極或柵線。
10.一種陣列基板的制作方法,其特征在于,制作所述陣列基板的薄膜晶體管中的柵極、源極、漏極、柵線、數據線、像素電極和公共電極中的一種或多種時,采用如權利要求1~9任一項所述的電極制作方法。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





