[發明專利]顯示面板的檢測方法和檢測裝置

有效

• 申請號: 201710335020.8
• 申請日: 2017-05-12
• 公開（公告）號: CN106920496B
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發明（設計）人: 朱明毅
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 姜春咸;陳源

本發明提供一種顯示面板的檢測方法，顯示面板包括多個像素單元，每個像素單元包括發光二極管和像素電路，所述像素電路包括驅動晶體管，所述驅動晶體管的第一極與所述發光二極管相連，所述檢測方法包括：檢測所述顯示面板達到目標亮度時每個像素單元中驅動晶體管的第一極的電信號的實際值，所述電信號包括電流信號和/或電壓信號；根據各個像素單元所對應的電信號的實際值判斷每個像素單元是否發生缺陷。相應地，本發明還提供一種檢測裝置，本發明能夠有助于操作人員快速判斷像素單元是否發生缺陷。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，具體涉及一種顯示面板的檢測方法和檢測裝置。

背景技術

有機電致發光二極管(Organic Light-Emitting Device,OLED)具有主動發光、溫度特性好、功耗小、響應快、視角寬、超輕薄和成本低等優點，已廣泛應用于顯示裝置中。在有機電致發光顯示面板中，每個像素單元中設置有發光二極管和用于驅動該發光二極管的像素驅動電路。在顯示時，提供給發光二極管的電流大小會受到與該發光二極管相連的驅動薄膜晶體管的閾值影響，而由于不同像素單元中驅動薄膜晶體管的閾值電壓和遷移率存在差異，導致不同像素單元中提供給發光二極管的電流不同，從而降低顯示面板顯示亮度的均勻性，產生顯示缺陷，例如，出現區域的斑點或圖案。面對各種顯示畫面，如何快速判斷像素單元是否發生缺陷，從而提高量產與降低成本成為本領域亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一，提出了一種顯示面板的檢測方法和檢測裝置，以快速檢測像素單元是否發生缺陷。

為了解決上述技術問題之一，本發明提供一種顯示面板的檢測方法，所述顯示面板包括多個像素單元，每個像素單元包括發光二極管和用于驅動所述發光二極管的像素電路，所述像素電路包括驅動晶體管，所述驅動晶體管的第一極與所述發光二極管相連，所述檢測方法包括：

檢測所述顯示面板達到目標亮度時每個像素單元中驅動晶體管的第一極的電信號的實際值，所述電信號包括電流信號和/或電壓信號；

根據各個像素單元所對應的電信號的實際值判斷每個像素單元是否發生缺陷。

優選地，所述根據各個像素單元所對應的電信號的實際值判斷每個像素單元是否發生缺陷的步驟包括：

計算每個像素單元所對應的電信號的實際值與標準值之間的實際差值；

將每個像素單元對應的實際差值與預定值進行對比，當所述實際差值大于預定值時，判定相應的像素單元為缺陷像素單元，并根據預設的多種缺陷類型與各自對應的預設差值范圍判斷每個缺陷像素單元的缺陷類型。

優選地，所述標準值為所述顯示面板的多個像素單元所對應的電信號的實際值的平均值。

優選地，根據每個像素單元所對應的實際差值以及預設的多種缺陷類型與各自對應的預設差值范圍判斷每個像素單元的缺陷類型的步驟之后還包括：

統計每種缺陷類型的像素單元的數量，并輸出統計結果。

優選地，所述根據各個像素單元所對應的電信號的實際值判斷每個像素單元是否發生缺陷的步驟包括：

生成參考圖像，該參考圖像包括與所述顯示面板的多個像素單元一一對應的多個像素點，每個像素點的灰階值與相應像素單元中驅動晶體管第一極的電信號的實際值正相關；

對所述參考圖像進行直方圖正規化；

根據直方圖正規化后的參考圖像判斷每個像素單元是否發生缺陷。

優選地，檢測所述顯示面板達到目標亮度時每個像素單元中驅動晶體管的第一極的電信號的實際值的步驟之前還包括：

根據所述目標亮度獲取理論數據電壓；

獲取每個像素單元中的驅動晶體管的閾值電壓；