[發明專利]顯示面板的檢測方法和檢測裝置

有效

• 申請號: 201710335020.8
• 申請日: 2017-05-12
• 公開（公告）號: CN106920496B
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發明（設計）人: 朱明毅
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 姜春咸;陳源

1.一種顯示面板的檢測方法，所述顯示面板包括多個像素單元，每個像素單元包括發光二極管和用于驅動所述發光二極管的像素電路，所述像素電路包括驅動晶體管，所述驅動晶體管的第一極與所述發光二極管相連，其特征在于，所述檢測方法包括：

檢測所述顯示面板達到目標亮度時每個像素單元中驅動晶體管的第一極的電信號的實際值，所述電信號包括電流信號和/或電壓信號；

根據各個像素單元所對應的電信號的實際值判斷每個像素單元是否發生缺陷；

所述根據各個像素單元所對應的電信號的實際值判斷每個像素單元是否發生缺陷的步驟包括：

生成參考圖像，該參考圖像包括與所述顯示面板的多個像素單元一一對應的多個像素點，每個像素點的灰階值與相應像素單元中驅動晶體管第一極的電信號的實際值正相關；

對所述參考圖像進行直方圖正規化；

根據直方圖正規化后的參考圖像判斷每個像素單元是否發生缺陷。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，檢測所述顯示面板達到目標亮度時每個像素單元中驅動晶體管的第一極的電信號的實際值的步驟之前還包括：

根據所述目標亮度獲取理論數據電壓；

獲取每個像素單元中的驅動晶體管的閾值電壓；

分別計算每個驅動晶體管的閾值電壓與所述理論數據電壓之和，以作為相應的像素單元的目標數據電壓；

為每個像素單元提供相應的目標數據電壓，以使得所述顯示面板能夠達到所述目標亮度。

3.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，根據所述目標亮度獲取理論數據電壓的步驟包括：

根據所述目標亮度獲取相應的目標灰階；

根據預設的灰階與數據電壓的關系確定與所述目標灰階對應的理論數據電壓。

4.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述獲取每個像素單元中的驅動晶體管的閾值電壓包括：

為所述顯示面板的各像素單元提供初始數據電壓，以使得所述顯示面板達到全黑暗態；

獲取每個驅動晶體管的第一極的電壓，以作為相應的驅動晶體管的閾值電壓。

5.一種檢測裝置，用于對顯示面板進行檢測，所述顯示面板包括多個像素單元，每個像素單元包括發光二極管和用于驅動所述發光二極管的像素電路，所述像素電路包括驅動晶體管，所述驅動晶體管的第一極與所述發光二極管相連，其特征在于，所述檢測裝置包括：

檢測模塊，用于檢測所述顯示面板達到目標亮度時每個像素單元中驅動晶體管的第一極的電信號的實際值，所述電信號包括電流信號和/或電壓信號；

分析模塊，用于根據各個像素單元所對應的電信號的實際值判斷每個像素單元是否發生缺陷；

所述分析模塊包括：

圖像生成單元，用于生成參考圖像，該參考圖像包括與所述顯示面板的多個像素單元一一對應的多個像素點，每個像素點的灰階值與相應像素單元中驅動晶體管的第一極的電信號的實際值正相關；

圖像處理單元，用于對所述參考圖像進行直方圖正規化；

第二判定單元，用于根據直方圖正規化后的參考圖像判斷每個像素單元是否發生缺陷。

6.根據權利要求5所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括：

理論數據獲取模塊，用于根據所述目標亮度獲取理論數據電壓；

閾值獲取模塊，用于獲取每個像素單元中的驅動晶體管的閾值電壓；

目標數據獲取模塊，用于分別計算每個驅動晶體管的閾值電壓與所述理論數據電壓之和，以作為相應的像素單元的目標數據電壓；

數據驅動模塊，用于為各個像素單元提供相應的目標數據電壓，以使得所述顯示面板能夠達到所述目標亮度。

7.根據權利要求6所述的檢測裝置，其特征在于，所述理論數據獲取模塊能夠根據所述目標亮度獲取相應的目標灰階，并根據預設的灰階與數據電壓的關系確定與所述目標灰階對應的理論數據電壓。

8.根據權利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述數據驅動模塊能夠在提供目標數據電壓之前為各個像素單元提供初始數據電壓，以使得所述顯示面板達到全黑暗態；

所述檢測模塊能夠檢測所述顯示面板達到全黑暗態時每個驅動晶體管第一極的陽極電壓；

所述閾值獲取模塊能夠將所述顯示面板達到全黑暗態時各個驅動晶體管第一極的電壓作為相應驅動晶體管的閾值電壓。