[發明專利]用于閃存的內建自測試電路、系統及方法

在審

• 申請號: 201710322134.9
• 申請日: 2017-05-09
• 公開（公告）號: CN107068196A
• 公開（公告）日: 2017-08-18
• 發明（設計）人: 劉峰;張迪宇
• 申請（專利權）人: 武漢新芯集成電路制造有限公司
• 主分類號: G11C29/44
• 分類號: G11C29/44;G11C29/18;G11C29/12;G11C29/04
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙)31237
• 代理人: 屈蘅,李時云

1.一種用于閃存的內建自測試電路，所述用于閃存的內建自測試電路連接在測試機臺和測試閃存之間，其特征在于，所述用于閃存的內建自測試電路包括自讀取測試模塊、自擦除測試模塊、自編程測試模塊和命令轉換模塊，其中：

所述自讀取測試模塊用于測試所述閃存的讀取操作，并將讀取測試結果發給所述命令轉換模塊；

所述自擦除測試模塊用于測試所述閃存的擦除操作，并將擦除測試結果發給所述命令轉換模塊；

所述自編程測試模塊用于測試所述閃存的編程操作，并將編程測試結果發給所述命令轉換模塊；

所述命令轉換模塊用于將所述測試機臺輸入的測試命令發給所述自讀取測試模塊、所述自擦除測試模塊和所述自編程測試模塊，以及將所述讀取測試結果、所述擦除測試結果和所述編程測試結果發給所述測試機臺。

2.如權利要求1所述的用于閃存的內建自測試電路，其特征在于，所述用于閃存的內建自測試電路還包括自判斷模塊，其中：

所述自讀取測試模塊將所述讀取測試結果發給所述自判斷模塊；

所述自擦除測試模塊將所述擦除測試結果發給所述自判斷模塊；

所述自編程測試模塊將所述編程測試結果發給所述自判斷模塊；

所述自判斷模塊根據所述讀取測試結果、所述擦除測試結果和所述編程測試結果得到測試成功結果或測試失敗結果，所述自判斷模塊將所述測試成功結果或所述測試失敗結果發送給所述測試機臺。

3.如權利要求2所述的用于閃存的內建自測試電路，其特征在于，所述用于閃存的內建自測試電路具有第一引腳和第二引腳，所述測試機臺通過所述第一引腳向所述命令轉換模塊發送時鐘信號，所述測試機臺通過所述第二引腳向所述命令轉換模塊發送所述測試命令，或接收所述讀取測試結果、所述擦除測試結果、所述編程測試結果、所述測試成功結果或所述測試失敗結果。

4.如權利要求3所述的用于閃存的內建自測試電路，其特征在于，所述測試命令包括第一測試命令，其中：

所述第一測試命令包括命令段和數據段，所述用于閃存的內建自測試電路根據所述命令段判斷對閃存進行讀取操作、編程操作或擦除操作。

5.如權利要求4所述的用于閃存的內建自測試電路，其特征在于，所述測試機臺發送所述第一測試命令時，所述時鐘信號為第一時鐘信號，所述用于閃存的內建自測試電路向所述測試機臺發送所述讀取測試結果、所述擦除測試結果或所述編程測試結果。

6.如權利要求3所述的用于閃存的內建自測試電路，所述測試閃存包括多個閃存模塊，其特征在于，所述測試命令包括第二測試命令，其中：

所述第二測試命令含有多個閃存地址，所述用于閃存的內建自測試電路根據所述閃存地址對所述測試閃存中的不同閃存模塊進行測試操作。

7.如權利要求6所述的用于閃存的內建自測試電路，其特征在于，所述測試機臺發送所述第二測試命令時，所述時鐘信號為第二時鐘信號，所述用于閃存的內建自測試電路向所述測試機臺發送測試成功結果或測試失敗結果。

8.如權利要求2所述的用于閃存的內建自測試電路，其特征在于，所述測試機臺通過所述第一引腳向所述命令轉換模塊發送第三時鐘信號，其中：

所述用于閃存的內建自測試電路中包括多個功能模塊，所述第三時鐘信號具有多個時序，不同的時序分別對應各個所述功能模塊，所述用于閃存的內建自測試電路根據所述第三時鐘信號的時序執行其所對應的各個功能模塊的命令。