[發明專利]測量方法、終端設備和接入網設備在審
| 申請號: | 201710314136.3 | 申請日: | 2017-05-05 |
| 公開(公告)號: | CN108810931A | 公開(公告)日: | 2018-11-13 |
| 發明(設計)人: | 李秉肇;權威;曹振臻;王學龍 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | H04W24/02 | 分類號: | H04W24/02;H04W36/00 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 楊貝貝;劉芳 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 波束 終端設備 接入網設備 同步信號 測量 小區 小區測量 申請 | ||
本申請提供一種測量方法、終端設備和接入網設備,包括:終端設備測量多個波束的信號質量,該多個波束的信號質量是通過同步信號塊獲得的,該多個波束的信號質量包括同一波束在不同時刻的信號質量,該多個波束屬于一個小區,終端設備根據該多個波束的信號質量,獲得小區的信號質量。從而實現了根據同步信號進行小區測量,并且根據多個波束在不同時刻的信號質量得到的小區的信號質量更加準確。
技術領域
本申請涉及通信技術,尤其涉及一種測量方法、終端設備和接入網設備。
背景技術
在長期演進(Long Term Evolution,簡稱LTE)系統中,終端設備根據參考信號(Reference Signal,簡稱RS)進行無線資源管理(Radio Resource Management,簡稱RRM)測量,如果終端設備的服務小區質量達到一定門限,則終端設備停止對同頻鄰區的測量以達到省電的目的,如果服務小區質量低于一定門限,則啟動對同頻鄰區的測量以發現更好的同頻鄰區。但是,現有技術中,在計算小區質量時,終端設備根據網絡側指定的需要測量的beam個數N,對小區內的beam進行檢測,檢測出超過一定門限的beam的個數M,如果M大于N,則選擇質量最好的N個beam的質量進行平均得到小區質量,如果M小于N,則對M個beam的質量進行平均得到小區質量,通過求取beam的質量的平均值得到小區質量不準確。
在第五代移動通信(5th-Generation,簡稱5G)系統中,終端設備不再基于RS進行RRM,而是基于同步信號(Synchronization Signal,簡稱SS)進行RRM測量,但是現有技術中,并沒有基于同步信號測量的具體實現方式。
發明內容
本申請提供一種測量方法、終端設備和接入網設備,使得對小區的信號質量的測量更加準確。
本申請第一方面提供一種測量方法,包括:終端設備測量多個波束的信號質量,所述多個波束的信號質量是通過同步信號塊獲得的,所述多個波束的信號質量包括同一波束在不同時刻的信號質量,所述多個波束屬于一個小區,根據所述多個波束的信號質量,獲得所述小區的信號質量。從而實現了根據同步信號進行小區測量,并且根據多個波束在不同時刻的信號質量得到的小區的信號質量更加準確。
在一種可能的實現方式中,所述多個波束的信號質量中一個波束的至少一個信號質量是通過該波束的同步信號塊獲得的。
在一種可能的實現方式中,所述終端設備根據所述多個波束的信號質量,獲得所述小區的信號質量,具體為:所述終端設備對所述多個波束中各波束的信號質量分別進行濾波處理,根據所述多個波束濾波后的信號質量,獲得所述小區的信號質量。
在一種可能的實現方式中,所述方法還包括:當所述小區的信號質量超過第二質量門限時,所述終端設備只對所述小區的一部分波束進行測量。即,不再對剩余的波束進行測量。由于只對小區的一部分波束進行測量,從而降低了終端設備的能耗。
本文中,所述超過包括大于的情況或者大于等于的情況。
在一種可能的實現方式中,所述方法還包括:所述終端設備獲取所述小區的同步信號突發集合發送周期,所述同步信號突發集合發送周期包括一個或多個個同步信號突發,相鄰同步信號突發之間具有一定時間間隔。通常,在所述同步信號突發集合發送周期內,相鄰同步信號突發之間具有時間間隔,每個同步信號突發可以包括多個同步信號塊,其中,每個同步信號塊通過一個波束發送。所述同步信號突發集合發送周期也可以被稱作synchronous signal burst set periodicity。相應的,所述終端設備測量多個波束的信號質量,具體為:所述終端設備在至少兩個同步信號突發集合發送周期內檢測接入網設備在所述多個波束上發送的同步信號塊,得到所述多個波束的信號質量,確定所述至少兩個同步信號突發集合發送周期中位于同一個相應位置的同步信號塊上檢測到的波束的信號質量屬于相同波束。
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