[發明專利]測量方法、終端設備和接入網設備

在審

• 申請號: 201710314136.3
• 申請日: 2017-05-05
• 公開（公告）號: CN108810931A
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發明（設計）人: 李秉肇;權威;曹振臻;王學龍
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04W24/02
• 分類號: H04W24/02;H04W36/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊貝貝;劉芳

1.一種測量方法，其特征在于，包括：

終端設備測量多個波束的信號質量，所述多個波束的信號質量是通過同步信號塊獲得的，所述多個波束的信號質量包括同一波束在不同時刻的信號質量，所述多個波束屬于一個小區；

所述終端設備根據所述多個波束的信號質量，獲得所述小區的信號質量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述多個波束的信號質量中一個波束的至少一個信號質量是通過該波束的同步信號塊獲得的。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述終端設備根據所述多個波束的信號質量，獲得所述小區的信號質量，包括：

所述終端設備對所述多個波束中各波束的信號質量分別進行濾波處理；

所述終端設備根據所述多個波束濾波后的信號質量，獲得所述小區的信號質量。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，還包括：

當所述小區的信號質量超過第二質量門限時，所述終端設備只對所述小區的一部分波束進行測量。

5.根據權利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，還包括：

所述終端設備獲取所述小區的同步信號突發集合發送周期；

所述終端設備測量多個波束的信號質量，包括：

所述終端設備在至少兩個同步信號突發集合發送周期內檢測接入網設備在所述多個波束上發送的同步信號塊，得到所述多個波束的信號質量；

所述終端設備確定所述至少兩個同步信號突發集合發送周期中位于同一個相應位置的同步信號塊上檢測到的波束的信號質量屬于相同波束。

6.根據權利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，還包括：

所述終端設備獲取所述小區的同步信號突發集合發送周期；

所述終端設備測量多個波束的信號質量，包括：

所述終端設備在所述同步信號突發集合發送周期內檢測接入網設備通過所述多個波束發送的同步信號塊，得到所述多個波束的信號質量；

所述終端設備根據接收到的各同步信號塊中包括的波束的定時索引，確定發送各同步信號塊的波束的標識；

所述終端設備確定標識相同的波束的信號質量屬于相同波束。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述終端設備根據接收到的各同步信號塊中包括的波束的定時索引，確定發送各同步信號塊的波束的標識，包括：

所述終端設備對所述各同步信號塊中包括的波束的定時索引和所述同步信號突發集合發送周期進行取模運算，得到發送所述各同步信號塊的波束的標識；

或者，所述終端設備確定所述各同步信號塊中包括的波束的定時索引為發送所述各同步信號塊的波束的標識。

8.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，還包括：

所述終端設備對所述小區的鄰區進行測量，得到所述鄰區的信號質量；

所述終端設備從所述鄰區的多個波束中確定待上報的波束的標識和/或從所述小區的多個波束中確定待上報的波束的標識；

所述終端設備將所述鄰區的信號質量、所述小區的信號質量以及所述小區待上報的波束的標識和/或所述鄰區待上報的波束的標識發送給接入網設備。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述終端設備從所述鄰區的波束中確定待上報的波束的標識和/或從所述小區的波束中確定待上報的波束的標識，包括：

所述終端設備根據所述小區的各波束濾波后的信號質量，確定濾波后的信號質量大于或等于預設的第三質量門限的波束為待上報波束，和/或，所述終端設備根據所述鄰區的各波束濾波后的信號質量，確定濾波后的信號質量大于或等于所述第三質量門限的波束為待上報波束；

或者，所述終端設備根據所述接入網設備配置的波束上報個數N1，從所述小區的多個波束中確定信號質量最好的N1個波束為待上報波束，和/或，所述終端設備從所述鄰區的多個波束中確定信號質量最好的N1個波束為待上報波束。