[發明專利]雙連接下測量間隙的配置方法及系統

有效

• 申請號: 201710313287.7
• 申請日: 2017-05-05
• 公開（公告）號: CN108810929B
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 田文強;顧祥新
• 申請（專利權）人: 北京紫光展銳通信技術有限公司
• 主分類號: H04W24/02
• 分類號: H04W24/02
• 代理公司: 北京蘭亭信通知識產權代理有限公司 11667
• 代理人: 趙永剛

本發明提供一種雙連接下測量間隙的配置方法及系統。UE與第一基站和第二基站進行雙連接，第一基站和第二基站中的一個為主基站，另一個為輔基站，所述方法包括：第一基站為UE配置第一測量間隙，所述第一測量間隙包括第一周期、第一偏移值和第一時長；第二基站為UE配置第二測量間隙，其中，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊，所述第二測量間隙包括第二周期、第二偏移值和第二時長。本發明能夠避免UE在同一時刻與主基站和輔基站同時中斷上下行數據傳輸。

技術領域

本發明涉及無線通信技術領域，尤其涉及一種雙連接下測量間隙的配置方法及系統。

背景技術

在LTE系統的測量間隙配置中，UE按照如下公式配置測量間隙：

SFN mod T＝FLOOR(gapOffset/10)；

subframe＝gapOffset mod 10；

T＝MGRP/10；

其中，SFN是系統幀號，subframe是子幀號，在滿足上述公式的SFN和subframe上UE被配置測量間隙。

基站通過為UE配置MGRP(Measurement Gap Repetition Period，測量間隙重復周期)來指示測量間隙周期，比如每40ms或者每80ms有一次測量間隙。基站通過為UE配置gapOffset來指示測量間隙位置，包括對應的系統幀號和子幀。基站通過為UE配置MGL(Measurement Gap Length，測量間隙長度)來指示一次測量間隙時長，比如6ms。

目前，在LTE-NR雙連接的場景下，例如LTE基站為主基站、NR基站為輔基站。主基站可以為UE配置測量間隙，輔基站側也可以為UE配置測量間隙。從而，一種可以預期的情況是：當主基站需要為UE配置異頻測量或者異系統測量時，主基站可以為UE配置一種測量間隙，在該測量間隙期間UE會中斷與主基站服務小區的通信；當輔基站需要為UE配置異頻測量或者異系統測量時，輔基站也可以為UE配置一種測量間隙，在該測量間隙期間UE會中斷與輔基站服務小區的通信。當主基站和輔基站為UE分別配置上述兩種測量間隙時，可能會產生上述兩種測量間隙在時間上重疊或者部分重疊的問題，導致出現UE在同一時刻與主基站和輔基站同時中斷上下行數據傳輸。

發明內容

本發明提供的雙連接下測量間隙的配置方法及系統，能夠避免UE在同一時刻與主基站和輔基站同時中斷上下行數據傳輸。

第一方面，本發明提供一種雙連接下測量間隙的配置方法，UE與第一基站和第二基站進行雙連接，第一基站和第二基站中的一個為主基站，另一個為輔基站，所述方法包括：

第一基站為UE配置第一測量間隙，所述第一測量間隙包括第一周期、第一偏移值和第一時長；

第二基站為UE配置第二測量間隙，其中，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊，所述第二測量間隙包括第二周期、第二偏移值和第二時長。

可選地，所述第一周期T1＝2^(m1-1)T0，所述第一偏移值為G1，所述第一時長為W1；所述第二周期T2＝2^(m2-1)T0，所述第二偏移值為G2，所述第二時長為W2；其中，T0為基本周期，m1和m2為正整數，G1為小于T1的非負整數，G2為小于T2的非負整數，W1為小于T1的正整數，W2為小于T2的正整數。

可選地，當T1＝T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1且G2＝G1+T1-W2。

可選地，當T1T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1+(n-1)*T1且G2＝G1+n*T1-W2，n為不大于N1的正整數，N1＝T2/T1。