[發明專利]雙連接下測量間隙的配置方法及系統

有效

• 申請號: 201710313287.7
• 申請日: 2017-05-05
• 公開（公告）號: CN108810929B
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 田文強;顧祥新
• 申請（專利權）人: 北京紫光展銳通信技術有限公司
• 主分類號: H04W24/02
• 分類號: H04W24/02
• 代理公司: 北京蘭亭信通知識產權代理有限公司 11667
• 代理人: 趙永剛

1.一種雙連接下測量間隙的配置方法，UE與第一基站和第二基站進行雙連接，第一基站和第二基站中的一個為主基站，另一個為輔基站，其特征在于，所述方法包括：

第一基站為UE配置第一測量間隙，所述第一測量間隙包括第一周期、第一偏移值和第一時長；

第二基站為UE配置第二測量間隙，其中，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊，所述第二測量間隙包括第二周期、第二偏移值和第二時長；

所述第一周期T1＝2^(m1-1)T0，所述第一偏移值為G1，所述第一時長為W1；所述第二周期T2＝2^(m2-1)T0，所述第二偏移值為G2，所述第二時長為W2；其中，T0為基本周期，m1和m2為正整數，G1為小于T1的非負整數，G2為小于T2的非負整數，W1為小于T1的正整數，W2為小于T2的正整數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當T1＝T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1且G2＝G1+T1-W2。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當T1T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1+(n-1)*T1且G2＝G1+n*T1-W2，n為不大于N1的正整數，N1＝T2/T1。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當T1T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2-(n-1)*T2，或者G2＝G1+W1-(n-1)*T2且G2＝G1+T1-W2-(n-1)*T2，n為不大于N2的正整數，N2＝T1/T2。

5.一種雙連接下測量間隙的配置系統，其特征在于：所述系統包括第一基站和第二基站，所述第一基站和第二基站中的一個為主基站，另一個為輔基站，UE與所述第一基站和第二基站進行雙連接，其中，

所述第一基站，用于為UE配置第一測量間隙，所述第一測量間隙包括第一周期、第一偏移值和第一時長；

所述第二基站，用于為UE配置第二測量間隙，其中，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊，所述第二測量間隙包括第二周期、第二偏移值和第二時長；

所述第一周期T1＝2^(m1-1)T0，所述第一偏移值為G1，所述第一時長為W1；所述第二周期T2＝2^(m2-1)T0，所述第二偏移值為G2，所述第二時長為W2；其中，T0為基本周期，m1和m2為正整數，G1為小于T1的非負整數，G2為小于T2的非負整數，W1為小于T1的正整數，W2為小于T2的正整數。

6.根據權利要求5所述的系統，其特征在于，當T1＝T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1且G2＝G1+T1-W2。

7.根據權利要求5所述的系統，其特征在于，當T1T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2，或者G2＝G1+W1+(n-1)*T1且G2＝G1+n*T1-W2，n為不大于N1的正整數，N1＝T2/T1。

8.根據權利要求5所述的系統，其特征在于，當T1T2時，所述第二測量間隙與所述第一測量間隙在時間上不重疊包括：所述第二測量間隙滿足G2＝G1-W2-(n-1)*T2，或者G2＝G1+W1-(n-1)*T2且G2＝G1+T1-W2-(n-1)*T2，n為不大于N2的正整數，N2＝T1/T2。