[發明專利]一種具有優良場發射性能的石墨烯/金剛石復合膜及其制備方法在審
| 申請號: | 201710313005.3 | 申請日: | 2017-05-05 |
| 公開(公告)號: | CN107190246A | 公開(公告)日: | 2017-09-22 |
| 發明(設計)人: | 申艷艷;麻根旺;于盛旺;黑鴻君;賀志勇;唐賓;賈鈺欣;張一新 | 申請(專利權)人: | 太原理工大學 |
| 主分類號: | C23C16/27 | 分類號: | C23C16/27;C23C16/56;C23C14/35;C23C14/58;C23C14/18;C23C28/00 |
| 代理公司: | 太原市科瑞達專利代理有限公司14101 | 代理人: | 申艷玲 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 優良 發射 性能 石墨 金剛石 復合 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種具有優良場發射性能的石墨烯/金剛石復合膜及其制備方法,屬于半導體技術領域。
背景技術
金剛石是典型的共價鍵結構,具有硬度高、化學穩定性好、禁帶寬、電子和空穴遷移率高、擊穿場強高、介電常數低等優異的物理化學性能,是制備高可靠性、長壽命場發射器件的理想陰極材料。然而,金剛石是寬禁帶半導體材料,金剛石薄膜電阻率非常高,電子在材料內部傳輸困難,從而導帶中電子的補給困難,使得金剛石材料的場發射性能受到限制。近年來,國內外研究者嘗試通過在生長過程中或采用離子注入的方法,將P 、N、O、Ag、Au等雜質摻入到金剛石薄膜中以期改善其導電性能。然而,摻雜后的金剛石薄膜電導率低,電子遷移率低,難以用作電子器件。
石墨烯是由扁平單層碳原子緊密堆積組成的二維蜂窩狀晶體結構。在石墨烯平面內,碳原子以六元環形式周期排列,每個碳原子通過σ鍵與臨近的三個碳原子相連,形成sp2雜化結構。碳原子有4個價電子,其中3個電子生成sp2鍵,即每個碳原子都貢獻一個未成鍵的電子位于pz軌道,近鄰原子的pz軌道在與平面垂直的方向形成π軌道,此時π鍵為半填滿狀態,π電子在石墨烯晶體平面內可以自由移動。這種電子結構使石墨烯具有優異的電學性能。因此在金剛石上制備石墨烯,對研制高場發射性能的石墨烯/金剛石復合膜,實現其在半導體器件,場致發射顯示器等領域的應用具有重要的科學意義和工程價值。
近年來,研究人員研發出了多種制備石墨烯的方法,主要包括微機械剝離法、氧化石墨還原法、化學氣相沉積法等。其中,機械剝離法獲得的石墨烯性能優良,但是效率很低,過程不可控,且重復性差;氧化石墨還原法雖然制備效率很高,但是由于還原劑的引入,破壞了石墨烯的共軛結構,降低了石墨烯固有的電學性能;化學氣相沉積法能夠制備大面積石墨烯膜,但是此方法操作工藝復雜,獲得的石墨烯薄膜厚度的可控性較差。
發明內容
本發明旨在提供一種具有優良場發射性能的石墨烯/金剛石復合膜,通過離子注入和熱退火處理的方法在金剛石薄膜上沉積石墨烯膜,簡單可控化生產高質量的石墨烯/金剛石復合膜;產品綜合了石墨烯和金剛石兩者優異的綜合性能,滿足場發射陰極材料的苛刻性能要求。本發明的另一個目的是提供了上述石墨烯/金剛石復合膜的制備方法,該方法簡單易操作,而且石墨烯/金剛石復合膜優異的綜合性能得以體現。
本發明提供了一種具有優良場發射性能的石墨烯/金剛石復合膜的制備方法,包括以下步驟:
(1)在襯底上制備金剛石薄膜;
(2)在步驟(1)得到的金剛石薄膜中表面生長一層100-600nm的Ni薄膜;
(3)將步驟(2)得到的表面生長有Ni薄膜的金剛石膜在Ar和H2混合氣氛中升溫至800~1000℃,并保溫20-80 min,金剛石膜中的碳原子在Ni層中溶解;
(4)將經步驟(3)處理的金剛石膜以0.5~1℃/s的速度降至室溫,碳原子析出到表面重結晶而形成石墨烯,得到石墨烯/金剛石復合膜。
上述方法中,所述步驟(1)中金剛石薄膜可按照本領域常規方法制備,可采用微波等離子體化學氣相沉積方法、熱絲化學氣相沉積方法、直流電弧等離子體噴射化學氣相沉積方法。
上述方法中,所述襯底為單晶硅、碳化硅、鉬、碳化硅中的一種。
上述方法中,所述金剛石薄膜為微米金剛石薄膜或超納米金剛石薄膜;
上述方法中,微米金剛石薄膜的制備方法如下:采用化學氣相沉積設備,以純度為99.999%的H2和純度為99.9%的CH4為反應氣體,沉積溫度為750~950℃,沉積時間為10~100h,制備得到厚度為5~100μm的微米金剛石薄膜。
上述方法中,超納米金剛石薄膜的制備方法如下:采用化學沉積設備,以純度為99.999%的Ar和H2及純度為99.9%的CH4為反應氣體,沉積溫度為750~950℃,沉積時間為2~10 h,制備得到厚度為200 nm~5000nm的超納米金剛石薄膜。
上述方法中,所述步驟(2)中,所述Ni薄膜的生長方法為磁控濺射、離子束輔助沉積或電子蒸發中的一種。
上述方法中,所述步驟(3)中,將表面生長有Ni薄膜的金剛石膜升溫至800~1000℃的時間是25-50 min。
上述方法中,所述Ar和H2混合氣氛中二者的體積比為H2:Ar =5%:95%。
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C23C16-00 通過氣態化合物分解且表面材料的反應產物不留存于鍍層中的化學鍍覆,例如化學氣相沉積
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C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機材料為特征的





