[發明專利]原位時間分辨X射線吸收譜的測量裝置和測量方法

有效

• 申請號: 201710312948.4
• 申請日: 2017-05-05
• 公開（公告）號: CN107219241B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 邵建達;劉世杰;王圣浩
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01N23/083
• 分類號: G01N23/083
• 代理公司: 上海恒慧知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31317
• 代理人: 張寧展

1.一種原位時間分辨X射線吸收譜的測量裝置，其特征在于，包括X射線源(1)、第一狹縫(2)、X射線濾波器(9)、射頻發生器(10)、第二狹縫(4)、前電離室(5)、前電離室信號放大器(11)、待測樣品(6)、后電離室(7)、后電離室信號放大器(13)、數據采集器(12)和計算機(14)；

沿所述X射線源(1)的光束出射方向依次是第一狹縫(2)和X射線濾波器(9)，沿所述X射線濾波器(9)光束出射方向依次是第二狹縫(4)、前電離室(5)、待測樣品(6)和后電離室(7)，所述的前電離室(5)的輸出信號經所述的前電離室信號放大器(11)放大處理后，傳送至所述的數據采集器(12)，所述的后電離室(7)的輸出信號經所述的后電離室信號放大器(13)進行放大處理后，傳送至所述的數據采集器(12)，所述的數據采集器(12)的輸出端與所述的計算機(14)的輸入端相連，所述的計算機(14)的輸出端與所述的射頻發生器(10)的輸入端相連，所述射頻發生器(10)發出的激勵信號傳送至所述的X射線濾波器(9)；所述的X射線濾波器(9)為聲光X射線濾波器或者為X射線液晶可調諧濾波器。

2.一種利用權利要求1所述的原位時間分辨X射線吸收譜的測量裝置進行原位時間分辨X射線吸收譜的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

①根據待測X射線吸收譜的波長范圍(λ₁,λ_n)，通過射頻發生器(10)將X射線濾波器(9)出射的光子波長設置為初始波長λ₁；

②通過數據采集器(12)、前電離室信號放大器(11)和后電離室信號放大器(13)，利用前電離室(5)和后電離室(7)分別同時測量入射X光束穿過待測樣品(6)前的強度I₀和入射X光束穿過待測樣品(6)后的強度I₁，并按照以下公式計算待測樣品(6)在波長λ₁位置處的光吸收系數μ₁；

③通過射頻發生器(10)將X射線濾波器(9)出射的光子波長依次設置為λ₂,λ₃…λ_n-1和λ_n，在各個波長位置處重復步驟②，得到各個波長位置處的光吸收系數和

④根據光吸收系數和繪制待測樣品(6)在波段范圍λ₁,λ_n內的X射線吸收譜。