[發(fā)明專利]一種基于過程數(shù)據(jù)跟蹤技術(shù)的學(xué)習(xí)薄弱項統(tǒng)計方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201710304789.3
• 申請日: 2017-05-03
• 公開（公告）號: CN107301609A
• 公開（公告）日: 2017-10-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳藝
• 申請（專利權(quán)）人: 北京中維百視科技有限公司
• 主分類號: G06Q50/20
• 分類號: G06Q50/20;G09B5/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于過程數(shù)據(jù)跟蹤技術(shù)的學(xué)習(xí)薄弱項統(tǒng)計方法，包括如下步驟：通過課中測式，將學(xué)員與課程捆綁，通過學(xué)習(xí)薄弱項值的量化計算，得出每位學(xué)員對于知識點的掌握程度，所述薄弱項是指：通過對過程結(jié)果的量化數(shù)據(jù)，得出學(xué)員的學(xué)習(xí)效果，哪些知識掌握的牢固，哪些掌握的薄弱，哪些介于中間狀態(tài)，其特征在于：薄弱項公式如下：薄弱項值W＝正確數(shù)A/回來次數(shù)T+對錯差值R-第幾次通過V，其中，A:同一道測試題有多少次回答正確，V:第幾次回答正確，如果未達(dá)對過則該值為100，T:同一道測試題共回答了多少次，R:這道測試題，正確數(shù)與錯誤數(shù)之間的差值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于過程數(shù)據(jù)跟蹤技術(shù)的學(xué)習(xí)薄弱項統(tǒng)計方法，其特征在于：薄弱項數(shù)值說明如下：薄弱項值W≥1，此項內(nèi)容為非薄弱項；薄弱項值0<W<1，此項內(nèi)容為警惕項；薄弱項值W≤0，此項內(nèi)容為薄弱項，需要重點學(xué)習(xí)掌握。