[發(fā)明專利]一種藍(lán)寶石襯底拋光的劃痕控制系統(tǒng)及控制方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710294248.7 | 申請日: | 2017-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN106926112A | 公開(公告)日: | 2017-07-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉曉強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 青島鑫嘉星電子科技股份有限公司 |
| 主分類號: | B24B37/04 | 分類號: | B24B37/04;B24B37/10;B24B37/30;B24B37/34;B24B37/005;B24B37/015;B24B57/02 |
| 代理公司: | 青島發(fā)思特專利商標(biāo)代理有限公司37212 | 代理人: | 鞏同海 |
| 地址: | 266114 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 藍(lán)寶石 襯底 拋光 劃痕 控制系統(tǒng) 控制 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種藍(lán)寶石襯底拋光的劃痕控制系統(tǒng)及控制方法,屬于拋光技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
進(jìn)行藍(lán)寶石襯底片拋光的工藝方法主要有機(jī)械拋光、化學(xué)拋光和化學(xué)機(jī)械拋光(Chemical Mechanical Polishing,簡稱CMP)等。機(jī)械拋光雖然能夠?qū)崿F(xiàn)全局平面化,但是難以實現(xiàn)表面粗糙度Ra小于1nm的納米級拋光;化學(xué)拋光雖然能夠?qū)崿F(xiàn)納米級拋光,但是不能實現(xiàn)全局平面化;化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)是機(jī)械磨削和化學(xué)腐蝕的組合技術(shù),它借助超微粒子的研磨作用及漿料的化學(xué)腐蝕作用在被加工表面形成光潔平坦平面,是目前實現(xiàn)藍(lán)寶石襯底片全局平坦化納米級拋光最成熟的方法。
由于藍(lán)寶石(Al2O3晶體)硬度太高,達(dá)到莫氏硬度9,僅次于金剛石,單純的機(jī)械拋光幾乎沒法拋出光滑表面,因此需要化學(xué)機(jī)械拋光,即使用可與藍(lán)寶石襯底之間發(fā)生緩慢的化學(xué)反應(yīng)的堿性拋光液,在藍(lán)寶石表面生成水化物偏鋁酸鹽,產(chǎn)生的偏鋁酸鹽是可以較容易的通過機(jī)械拋光去除的。但是在沒有機(jī)械拋光作用的情況下偏鋁酸鹽會阻擋藍(lán)寶石晶體表面與拋光液之間的直接接觸,從而阻擋化學(xué)反應(yīng)的繼續(xù)進(jìn)行。
目前在藍(lán)寶石襯底片CMP主要有兩種:一種是通過粗糙度較大的粗拋墊去除DMP產(chǎn)生的劃痕,再通過粗糙度較小,而去除速率也很小的精拋墊去除粗拋產(chǎn)生的劃痕。但這種方式的缺點是效率慢,成本高,隨著行業(yè)的發(fā)展,對生產(chǎn)效率和成本的要求越來越嚴(yán)格,這種方式正逐漸被淘汰;另一種目前常用的方式是直接使用粗拋墊進(jìn)行CMP,之后進(jìn)行檢驗,將劃痕較明顯的產(chǎn)品進(jìn)行返工,以降低表面質(zhì)量要求的方式提高生產(chǎn)效率和加工成本,這種方法缺點是產(chǎn)品質(zhì)量不穩(wěn)定,返工率高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有藍(lán)寶石襯底片CMP存在的上述缺陷,提出了一種藍(lán)寶石襯底拋光的劃痕控制系統(tǒng)及控制方法,設(shè)置有自動調(diào)節(jié)控制裝置、拋光機(jī)、冷水機(jī)、溫度傳感器、阻力測量計和PH傳感器,實現(xiàn)了自動控制藍(lán)寶石襯底片的拋光和襯底片劃痕的控制。
本發(fā)明是采用以下的技術(shù)方案實現(xiàn)的:包括自動調(diào)節(jié)控制裝置、拋光機(jī)、冷水機(jī)、溫度傳感器、阻力測量計和PH傳感器,自動調(diào)節(jié)控制裝置分別與拋光機(jī)、冷水機(jī)、溫度傳感器、阻力測量計和PH傳感器連接,拋光機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸下連接有拋頭,阻力測量計設(shè)置在旋轉(zhuǎn)軸與拋頭連接處,阻力測量計通過測量拋光機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸與拋頭的側(cè)向作用力以測量藍(lán)寶石襯底片與拋光墊之間的摩擦阻力,拋頭的下方為拋光機(jī)的拋光盤,拋光墊粘貼于拋光盤上,拋光墊的上方設(shè)有溫度傳感器和拋光液流液管,溫度傳感器用于檢測拋光盤加工溫度,拋光液流液管的另一端設(shè)置在拋光液灌內(nèi)且與設(shè)置在拋光液灌內(nèi)的抽液泵連接,PH傳感器設(shè)置在拋光液灌內(nèi)并檢測拋光液灌內(nèi)拋光液的PH值。
進(jìn)一步地,還包括堿液槽,堿液槽與設(shè)有電磁閥的堿液滴液管連接,電磁閥通過繼電器與自動調(diào)節(jié)控制裝置連接。
進(jìn)一步地,所述堿液槽內(nèi)設(shè)有質(zhì)量分?jǐn)?shù)為10%的KOH溶液。
進(jìn)一步地,所述溫度傳感器采用紅外線傳感器。
進(jìn)一步地,所述阻力測量計采用壓力傳感器。
進(jìn)一步地,一種藍(lán)寶石襯底拋光的劃痕控制方法,包括下列步驟:
步驟一:將貼好藍(lán)寶石襯底片的陶瓷盤安裝于拋光機(jī)旋轉(zhuǎn)軸上,并固定,將拋光墊粘貼于拋光盤上;
步驟二:設(shè)置工藝條件;
步驟三:啟動控制系統(tǒng)并進(jìn)行藍(lán)寶石襯底片拋光;
設(shè)定好工藝條件并啟動控制系統(tǒng)后,抽液泵抽取拋光液灌內(nèi)的拋光液,并通過拋光液流液管不斷在拋光墊上流出拋光液,藍(lán)寶石襯底片貼在陶瓷盤上,通過拋光機(jī)上的拋頭在陶瓷盤背面施加壓力,拋光盤和拋頭轉(zhuǎn)動時會產(chǎn)生摩擦,從而對藍(lán)寶石襯底片進(jìn)行拋光;拋光過程中,當(dāng)PH傳感器檢測到拋光液灌內(nèi)拋光液的PH值低于PH設(shè)定值時,PH傳感器將信號傳遞給自動調(diào)節(jié)控制裝置,自動調(diào)節(jié)控制裝置控制繼電器進(jìn)而打開電磁閥使堿液滴液管添加KOH溶液;當(dāng)溫度傳感器檢測拋光盤的溫度高于或低于其溫度設(shè)定值時,溫度傳感器將檢測到的信號傳遞給自動調(diào)節(jié)控制裝置,自動調(diào)節(jié)控制裝置控制冷水機(jī)相應(yīng)開啟加熱或制冷程序;當(dāng)阻力測量計檢測到摩擦阻力低于或高于其設(shè)定值時,將信號傳遞給自動調(diào)節(jié)控制裝置,自動調(diào)節(jié)控制裝置控制拋光機(jī)逐步升高或降低拋頭在陶瓷盤上施加的壓力,直到摩擦阻力恢復(fù)到其設(shè)定值;
步驟四:寶石襯底片拋光完成后關(guān)閉控制系統(tǒng)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:
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