[發(fā)明專利]晶片的加工方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710291264.0 | 申請日: | 2017-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN107452609B | 公開(公告)日: | 2023-04-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 關(guān)家一馬 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社迪思科 |
| 主分類號: | H01L21/304 | 分類號: | H01L21/304;H01L21/78 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;于靖帥 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶片 加工 方法 | ||
提供晶片的加工方法,能夠?qū)M(jìn)行適當(dāng)?shù)胤指畈⑶疑a(chǎn)性較高。一種晶片的加工方法,包含如下的工序:改質(zhì)層形成工序,將對于晶片(11)具有透過性的波長的激光光線(L)會聚在晶片的內(nèi)部并沿著分割預(yù)定線(13)進(jìn)行照射,在晶片的內(nèi)部形成沿著分割預(yù)定線的改質(zhì)層(17);晶片支承工序,在改質(zhì)層形成工序之前或之后,在晶片的背面(11b)上粘貼具有伸縮性的劃片帶(31),并將劃片帶的外周部安裝在環(huán)狀的框架(33)上;帶擴(kuò)展工序,對劃片帶進(jìn)行擴(kuò)展;以及空氣吹送工序,在對劃片帶進(jìn)行了擴(kuò)展的狀態(tài)下向晶片吹送空氣(A),沿著形成有改質(zhì)層的分割預(yù)定線將晶片分割成各個器件芯片,并且將器件芯片彼此的間隔擴(kuò)大。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及晶片的加工方法,該方法用于將晶片分割成多個芯片。
背景技術(shù)
在將由硅或SiC、藍(lán)寶石等材料構(gòu)成的晶片分割成多個芯片時,例如,使透過性的激光光線會聚而產(chǎn)生多光子吸收,從而將晶片的內(nèi)部局部地改質(zhì)而形成改質(zhì)層(改質(zhì)區(qū)域)(例如,參照專利文獻(xiàn)1、2)。
由于改質(zhì)層比其他的區(qū)域脆,所以之后僅施加較小的力便能夠使晶片斷裂而分割成多個芯片。作為對晶片施加力的方法,例如,具有對粘貼在晶片上的具有伸縮性的劃片帶(擴(kuò)展帶)進(jìn)行擴(kuò)展的方法或?qū)⒌毒咄频钟诰姆指铑A(yù)定線(間隔道)的方法等。
專利文獻(xiàn)1:日本特開2005-223284號公報
專利文獻(xiàn)2:日本特開2006-12902號公報
但是,在對具有伸縮性的劃片帶進(jìn)行擴(kuò)展的方法中,有時劃片帶的擴(kuò)展量不足而使晶片無法適當(dāng)?shù)財嗔选2⑶遥捎谠摲椒ú贿m合得到較大的力,所以有時也會因晶片的種類而無法完全地斷裂。
另一方面,通過推抵刀具的方法能夠得到使晶片斷裂的足夠大的力。但是,在該方法中,由于必須將刀具推抵于全部的分割預(yù)定線,所以在生產(chǎn)性的方面存在問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于該問題點(diǎn)而完成的,其目的在于,提供晶片的加工方法,生產(chǎn)性較高,能夠?qū)M(jìn)行適當(dāng)?shù)胤指睢?/p>
根據(jù)本發(fā)明的一方式,提供晶片的加工方法,將在由呈格子狀設(shè)定的多條分割預(yù)定線劃分的正面?zhèn)榷鄠€區(qū)域內(nèi)形成有器件的晶片沿著該分割預(yù)定線分割成各個器件芯片,該晶片的加工方法的特征在于,包含如下的工序:改質(zhì)層形成工序,將對于晶片具有透過性的波長的激光光線會聚在晶片的內(nèi)部并沿著該分割預(yù)定線進(jìn)行照射,在晶片的內(nèi)部形成沿著該分割預(yù)定線的改質(zhì)層;晶片支承工序,在該改質(zhì)層形成工序之前或之后,在晶片的背面上粘貼具有伸縮性的劃片帶,并將該劃片帶的外周部安裝在環(huán)狀的框架上;帶擴(kuò)展工序,對該劃片帶進(jìn)行擴(kuò)展;以及空氣吹送工序,在對該劃片帶進(jìn)行了擴(kuò)展的狀態(tài)下向晶片吹送空氣,沿著形成有該改質(zhì)層的該分割預(yù)定線將晶片分割成各個器件芯片,并且將器件芯片彼此的間隔擴(kuò)大。
在本發(fā)明的一方式中,優(yōu)選在該空氣吹送工序中,通過氣刀來吹送空氣。
并且,在本發(fā)明的一方式中,也可以在實(shí)施該改質(zhì)層形成工序之前,實(shí)施如下的背面磨削工序:對在正面上粘貼有保護(hù)部件的晶片的背面進(jìn)行磨削,將晶片加工成規(guī)定的厚度。
并且,在本發(fā)明的一方式中,也可以與該帶擴(kuò)展工序同時地開始進(jìn)行該空氣吹送工序。
根據(jù)本發(fā)明的一方式的晶片的加工方法,由于在對粘貼于晶片的背面的劃片帶進(jìn)行了擴(kuò)展的狀態(tài)下向晶片吹送空氣,所以能夠利用因?qū)澠瑤нM(jìn)行擴(kuò)展而產(chǎn)生的力和因吹送空氣而產(chǎn)生的力來適當(dāng)?shù)胤指罹?/p>
并且,在本發(fā)明的一方式的晶片的加工方法中,只要在對劃片帶進(jìn)行了擴(kuò)展的狀態(tài)下向晶片吹送空氣即可,由于不需要將刀具等推抵于全部的分割預(yù)定線,所以也提高了生產(chǎn)性。這樣,根據(jù)本發(fā)明的一方式,得到了能夠?qū)M(jìn)行適當(dāng)?shù)胤指畹纳a(chǎn)性較高的晶片的加工方法。
并且,在本發(fā)明的一方式的晶片的加工方法中,由于不需要將刀具等推抵于分割預(yù)定線,所以將對晶片進(jìn)行分割時器件芯片破損的可能性抑制得較低。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





