[發(fā)明專利]氧化錫電極推進(jìn)量的獲取方法和裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710284132.5 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107129130B | 公開(公告)日: | 2019-08-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李青;穆美強(qiáng);蘇記華;趙玉樂;王光祥;韓軍;魏猛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東旭(營(yíng)口)光電顯示有限公司;鄭州旭飛光電科技有限公司;東旭光電科技股份有限公司;東旭集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號(hào): | C03B5/16 | 分類號(hào): | C03B5/16;C03B5/02 |
| 代理公司: | 北京英創(chuàng)嘉友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏嘉熹;南毅寧 |
| 地址: | 115003 遼寧省*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氧化 電極 推進(jìn) 獲取 方法 裝置 | ||
本公開提出了一種氧化錫電極推進(jìn)量的獲取方法和裝置,涉及玻璃制造領(lǐng)域,應(yīng)用于玻璃窯爐,其特征在于,玻璃窯爐包括氧化錫電極和池壁磚,該方法包括:根據(jù)原材料中氧化錫的引入量、玻璃窯爐氧化錫的流出量、氧化錫的揮發(fā)量獲取氧化錫電極的侵蝕量。根據(jù)氧化鋯的流出量,獲取池壁磚的侵蝕量。根據(jù)氧化錫電極的侵蝕量和池壁磚的侵蝕量,獲取氧化錫電極相對(duì)于池壁磚的推進(jìn)量。本公開能夠使氧化錫電極與池壁磚保持平齊,提高玻璃窯爐的工作效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及玻璃制造領(lǐng)域,尤其涉及一種氧化錫電極推進(jìn)量的獲取方法和裝置。
背景技術(shù)
在使用玻璃窯爐制造玻璃基板時(shí),通過電極來加熱來熔化原材料,而原材料中的氧化錫會(huì)對(duì)氧化錫電極暴露在窯爐中的部分造成侵蝕,因此需要推進(jìn)氧化錫電極使玻璃窯爐能夠正常工作。然而,玻璃窯爐的池壁磚在制造玻璃基板的過程中也會(huì)被侵蝕,使得推進(jìn)后的氧化錫電極突出池壁磚。
發(fā)明內(nèi)容
本公開提供一種氧化錫電極推進(jìn)量的獲取方法和裝置,用以解決玻璃窯爐的池壁磚被侵蝕后,氧化錫電極推進(jìn)量產(chǎn)生偏差的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本公開實(shí)施例的第一方面,提供一種氧化錫電極推進(jìn)量的獲取方法,應(yīng)用于玻璃窯爐,其特征在于,所述玻璃窯爐包括氧化錫電極和池壁磚,所述方法包括:
根據(jù)原材料中氧化錫的引入量、所述玻璃窯爐氧化錫的流出量、氧化錫的揮發(fā)量獲取所述氧化錫電極的侵蝕量;
根據(jù)所述氧化鋯的流出量,獲取所述池壁磚的侵蝕量;
根據(jù)所述氧化錫電極的侵蝕量和所述池壁磚的侵蝕量,獲取所述氧化錫電極相對(duì)于所述池壁磚的推進(jìn)量。
可選的,所述氧化錫電極為N組氧化錫電極,所述玻璃窯爐按照所述N組氧化錫電極劃分為N個(gè)區(qū),其中N為正整數(shù);
所述根據(jù)原材料中氧化錫的引入量、所述玻璃窯爐氧化錫的流出量、氧化錫的揮發(fā)量獲取所述氧化錫電極的侵蝕量,包括:
根據(jù)所述氧化錫的引入量、所述氧化錫的流出量、所述氧化錫的揮發(fā)量以及所述N個(gè)區(qū)中每個(gè)區(qū)的電極侵蝕比例系數(shù),獲取所述每個(gè)區(qū)的氧化錫電極侵蝕量;
所述根據(jù)所述氧化鋯的流出量,獲取所述池壁磚的侵蝕量,包括:
根據(jù)所述玻璃窯爐氧化鋯的流出量和所述N個(gè)區(qū)中每個(gè)區(qū)的池壁磚侵蝕比例系數(shù),獲取所述每個(gè)區(qū)的池壁磚侵蝕量;
所述根據(jù)所述氧化錫電極的侵蝕量和所述池壁磚的侵蝕量,獲取所述氧化錫電極相對(duì)于所述池壁磚的推進(jìn)量,包括:
根據(jù)所述每個(gè)區(qū)的氧化錫電極侵蝕量和所述每個(gè)區(qū)的池壁磚侵蝕量,獲取所述每個(gè)區(qū)的氧化錫電極相對(duì)于該區(qū)域的池壁磚的推進(jìn)量。
可選的,所述根據(jù)所述氧化錫的引入量、所述氧化錫的流出量、所述氧化錫的揮發(fā)量以及所述N個(gè)區(qū)中每個(gè)區(qū)的電極侵蝕比例系數(shù),獲取所述每個(gè)區(qū)的氧化錫電極侵蝕量,包括:
根據(jù)所述氧化錫的引入量、所述氧化錫的流出量和所述氧化錫的揮發(fā)量,獲取所述氧化錫電極組的總侵蝕量;
根據(jù)所述氧化錫電極組的總侵蝕量,以及所述N個(gè)區(qū)中每個(gè)區(qū)的電極侵蝕比例系數(shù),獲取所述每個(gè)區(qū)的氧化錫電極侵蝕量。
可選的,所述根據(jù)所述玻璃窯爐氧化鋯的流出量和所述N個(gè)區(qū)中每個(gè)區(qū)的池壁磚侵蝕比例系數(shù),獲取所述每個(gè)區(qū)的池壁磚侵蝕量,包括:
根據(jù)所述氧化鋯的流出量,獲取所述池壁磚的總侵蝕量;
根據(jù)所述池壁磚的總侵蝕量,以及所述N個(gè)區(qū)中每個(gè)區(qū)的池壁磚侵蝕比例系數(shù),獲取所述每個(gè)區(qū)的池壁磚侵蝕量。
可選的,所述根據(jù)所述氧化錫的引入量、所述氧化錫的流出量和所述氧化錫的揮發(fā)量,獲取所述氧化錫電極組的總侵蝕量,包括:
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