[發明專利]一種電子耳蝸刺激器芯片防靜電測試方法

在審

• 申請號: 201710267793.7
• 申請日: 2017-04-21
• 公開（公告）號: CN107121605A
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發明（設計）人: 陳燦鋒;孫曉安;黃穗
• 申請（專利權）人: 浙江諾爾康神經電子科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電子耳蝸刺激器芯片防靜電測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

將芯片各輸入輸出管腳與電容相連，電容與芯片輸入輸出管腳相連一端稱引腳，電容的另一端稱電極口，芯片的電源腳和地腳通過一個電容相連；

對芯片的單輸入輸出管腳進行靜電放電測試；

對芯片的雙輸入輸出管腳進行靜電放電測試；

對芯片的電源腳和地腳進行靜電放電測試，

其中，對單輸入輸出管腳靜電放電測試包括以下步驟：

地腳接地，對一個引腳施加正的靜電放電電壓對地放電，電源腳與其余電極口皆懸空；

地腳接地，對一個引腳施加負的靜電放電電壓對地放電，電源腳與其余電極口皆懸空；

地腳接地，對一個電極口施加正的靜電放電電壓對地放電，電源腳與其余電極口皆懸空；

地腳接地，對一個電極口施加負的靜電放電電壓對地放電，電源腳與其余電極口皆懸空；

電源腳接地，對一個引腳施加正的靜電放電電壓對電源放電，地腳與其余電極口皆懸空；

電源腳接地，對一個引腳施加負的靜電放電電壓對電源放電，地腳與其余電極口皆懸空；

電源腳接地，對一個電極口施加正的靜電放電電壓對電源放電，地腳與其余電極口皆懸空；

電源腳接地，對一個電極口施加負的靜電放電電壓對電源放電，地腳與其余電極口皆懸空，

其中，在每一步對被測引腳或被測電極口對應的引腳進行電流電壓掃描，直到記錄到導致IV曲線偏離時的靜電放電電壓。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對芯片的雙輸入輸出管腳進行靜電放電測試，包括以下步驟：

對一個引腳施加正的靜電放電電壓，其余輸入輸出管腳皆接地，電源腳與地腳懸空；

對一個引腳施加負的靜電放電電壓，其余輸入輸出管腳皆接地，電源腳與地腳懸空；

對一個電極口施加正的靜電放電電壓，其余輸入輸出管腳皆接地，電源腳與地腳懸空；

對一個電極口施加負的靜電放電電壓，其余輸入輸出管腳皆接地，電源腳與地腳懸空；

對一個引腳施加正的靜電放電電壓，其余電極口皆接地，電源腳與地腳懸空；

對一個引腳施加負的靜電放電電壓，其余電極口皆接地，電源腳與地腳懸空；

對一個電極口施加正的靜電放電電壓，其余電極口皆接地，電源腳與地腳懸空；

對一個電極口施加負的靜電放電電壓，其余電極口皆接地，電源腳與地腳懸空，

其中，在每一步對被測引腳或被測電極口對應的引腳進行電流電壓掃描，直到記錄到導致IV曲線偏離時的靜電放電電壓。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對芯片的電源腳和地腳進行靜電放電測試，包括以下步驟：

電源腳施加正的靜電放電電壓，地腳接地，其余電極口皆懸空；

電源腳施加負的靜電放電電壓，地腳接地，其余電極口皆懸空，

其中，在每一步對被測引腳或被測電極口對應的引腳進行電流電壓掃描，直到記錄到導致IV曲線偏離時的靜電放電電壓。