[發(fā)明專利]一種光導(dǎo)開關(guān)及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710254689.4 | 申請日: | 2017-04-18 |
| 公開(公告)號: | CN108735849A | 公開(公告)日: | 2018-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王華杰;王燕;保羅·邦凡蒂 | 申請(專利權(quán))人: | 上海新昇半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/08 | 分類號: | H01L31/08;H01L31/0312;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 余昌昊 |
| 地址: | 201306 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光導(dǎo)開關(guān) 硅襯底 碳化硅薄膜 碳化硅 襯底 制備 生長碳化硅薄膜 單晶硅 大規(guī)模應(yīng)用 金屬電極 生產(chǎn)效率 傳統(tǒng)的 | ||
本發(fā)明提供了一種光導(dǎo)開關(guān),包括:硅襯底;位于所述硅襯底上的碳化硅薄膜;位于所述碳化硅薄膜上的金屬電極。本發(fā)明提供的光導(dǎo)開關(guān),使用廉價廣泛的單晶硅襯底,采用硅襯底上生長碳化硅薄膜的方式取代傳統(tǒng)的碳化硅襯底,降低碳化硅的制備難度,提高生產(chǎn)效率,降低了光導(dǎo)開關(guān)的成本,有利于光導(dǎo)開關(guān)的大規(guī)模應(yīng)用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路制造技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種光導(dǎo)開關(guān)及其制備方法。
背景技術(shù)
光導(dǎo)開關(guān)是一種通過激光控制電流導(dǎo)通的光電器件。光照前,襯底具有較高電阻值,電流無法導(dǎo)通,開關(guān)處于關(guān)斷狀態(tài)。光照過程中,半導(dǎo)體材料電阻率發(fā)生改變,阻值變小,開關(guān)導(dǎo)通;熄滅光脈沖后,電阻率恢復(fù),開關(guān)又處于阻斷狀態(tài),從而形成電脈沖。光導(dǎo)開關(guān)在電脈沖產(chǎn)生及探測等領(lǐng)域存在著應(yīng)用價值。
光導(dǎo)開關(guān)原理主要基于半導(dǎo)體材料特性,光照下大量電子會從價帶激發(fā)到導(dǎo)帶,提高材料導(dǎo)電性能。最初光導(dǎo)開關(guān)采用單晶硅制備,后來寬禁帶半導(dǎo)體由于具有更高的擊穿強(qiáng)度、穩(wěn)定的化學(xué)性質(zhì)以及優(yōu)良的導(dǎo)熱性能,開始在光導(dǎo)開關(guān)中進(jìn)行應(yīng)用。目前常見的寬禁帶半導(dǎo)體有氮化鎵(GaN),碳化硅(SiC),氮化鋁(AlN)等材料,其中SiC單晶已成功制備出光導(dǎo)開關(guān),如圖1所示,在SiC單晶襯底4上設(shè)置電極3,耐壓值在千伏以上,具有優(yōu)良的性能,但由于SiC在正常的工程條件下無液相存在,理論計算表明在壓力超過1010Pa、溫度超過2830℃的條件下,理想化學(xué)配比的SiC熔體才可能存在,所以SiC晶體的制備難度較大,從而導(dǎo)致其價格昂貴,這嚴(yán)重影響了光導(dǎo)開關(guān)的大規(guī)模應(yīng)用。
所以亟需一種新的光導(dǎo)開關(guān)來解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種光導(dǎo)開關(guān),以解決現(xiàn)有的光導(dǎo)開關(guān)制備困難、價格昂貴等問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種光導(dǎo)開關(guān),包括:
硅襯底;
位于所述硅襯底上的碳化硅薄膜;
位于所述碳化硅薄膜上的金屬電極。
可選的,所述的碳化硅為3C碳化硅。
可選的,所述碳化硅薄膜的電阻率大于100000Ω·cm。
可選的,所述碳化硅薄膜的厚度大于20μm。
可選的,所述金屬電極為兩個,其中一個為正極,另一個為負(fù)極。
相應(yīng)的,本發(fā)明還一種光導(dǎo)開關(guān)的制備方法,包括以下步驟:
提供一硅襯底;
在所述硅襯底上形成碳化硅薄膜;
在所述碳化硅薄膜上形成金屬電極。
可選的,所述碳化硅薄膜采用化學(xué)氣相沉積法沉積而成。
可選的,在所述硅襯底上形成碳化硅薄膜包括:采用氫氣與氯化氫氣體對硅襯底表面進(jìn)行刻蝕處理,去除硅表面氧化層與損傷層;采用丙烷和硅烷作為反應(yīng)氣體,在氫氣氛圍下生成碳化硅薄膜。
可選的,在提供一硅襯底之后,在所述硅襯底上形成碳化硅薄膜之前,還包括:對所述硅襯底進(jìn)行清洗。
可選的,在所述碳化硅薄膜上形成金屬電極包括:
在碳化硅薄膜上形成光刻膠;
在所述光刻膠中形成開口,暴露出所述碳化硅薄膜;
在所述碳化硅薄膜上進(jìn)行金屬沉積,填充滿所述開口;
去除所述金屬位于所述光刻膠上的部分,僅保留位于所述開口中的部分,形成所述金屬電極;
去除所述光刻膠;
在氬氣氛下進(jìn)行快速熱退火處理。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





