[發(fā)明專利]用于檢測(cè)來(lái)自外部電源的過(guò)電壓尖峰的過(guò)電壓檢測(cè)電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710250809.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107393597B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | W·K·萊爾德;J·J·克勞福特 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西部數(shù)據(jù)技術(shù)公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/56 | 分類號(hào): | G11C29/56;G01R19/04;G01R29/027;G01R29/033 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人: | 趙蓉民 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢測(cè) 來(lái)自 外部 電源 過(guò)電壓 尖峰 電路 | ||
1.一種過(guò)電壓檢測(cè)電路,其通過(guò)電壓供電線耦合至外部電源,所述過(guò)電壓檢測(cè)電路包括:
晶體管,其包括耦合至所述電壓供電線的源極端子,經(jīng)由并聯(lián)連接的電阻器和寄生電容器耦合至所述源極端子的柵極端子,所述晶體管被配置為:
在所述晶體管的所述源極端子處接收來(lái)自所述外部電源的過(guò)電壓尖峰;
以及
當(dāng)所述過(guò)電壓尖峰具有下述條件時(shí),在所述晶體管的漏極端子處提供輸出電壓以指示檢測(cè)到所述過(guò)電壓尖峰:
小于基于所述電阻器和所述寄生電容器的時(shí)間常數(shù)的持續(xù)時(shí)間;以及
大于所述晶體管的閾值電壓的振幅;
以及
監(jiān)控電路,其被配置為從所述晶體管接收所述輸出電壓并且提供數(shù)字信號(hào)從而提供在所述電壓供電線上檢測(cè)到來(lái)自所述外部電源的過(guò)電壓尖峰的通知。
2.如權(quán)利要求1所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述監(jiān)控電路耦合至控制器,并且所述控制器耦合至非易失性存儲(chǔ)器,所述控制器被配置為接收檢測(cè)到過(guò)電壓尖峰的通知并且在所述非易失性存儲(chǔ)器中記錄所述檢測(cè)到過(guò)電壓尖峰的發(fā)生。
3.如權(quán)利要求2所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中記錄所述檢測(cè)到過(guò)電壓尖峰的發(fā)生包括遞增所述非易失性存儲(chǔ)器中的計(jì)數(shù)器。
4.如權(quán)利要求1所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,進(jìn)一步包括耦合在所述晶體管的所述源極端子和柵極端子之間的多個(gè)可選擇的電阻器,其中所述電阻器是所述可選擇的電阻器中的一個(gè),其被選擇以確定由所述晶體管可檢測(cè)到的過(guò)電壓尖峰的持續(xù)時(shí)間。
5.如權(quán)利要求4所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,進(jìn)一步包括多個(gè)開(kāi)關(guān),其中所述多個(gè)開(kāi)關(guān)的每個(gè)都耦合至所述可選擇的電阻器中的一個(gè)并且被配置為當(dāng)被激活時(shí)選擇相應(yīng)的可選擇的電阻器。
6.如權(quán)利要求5所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,進(jìn)一步包括寄存器,所述寄存器耦合至所述多個(gè)開(kāi)關(guān)的每個(gè)并且被配置為通過(guò)激活相應(yīng)的開(kāi)關(guān)來(lái)選擇所述多個(gè)可選擇的電阻器中的一個(gè)。
7.如權(quán)利要求2所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述控制器是硬盤控制器。
8.如權(quán)利要求2所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述控制器是固態(tài)存儲(chǔ)器控制器。
9.如權(quán)利要求2所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述非易失性存儲(chǔ)器包括旋轉(zhuǎn)磁介質(zhì)。
10.如權(quán)利要求2所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述非易失性存儲(chǔ)器包括閃存存儲(chǔ)器。
11.如權(quán)利要求2所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述過(guò)電壓檢測(cè)電路和所述控制器位于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備中。
12.如權(quán)利要求11所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備是硬盤驅(qū)動(dòng)器。
13.如權(quán)利要求11所述的過(guò)電壓檢測(cè)電路,其中所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備是固態(tài)驅(qū)動(dòng)器。
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G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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