[發明專利]坩鍋有效
| 申請號: | 201710249202.3 | 申請日: | 2017-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN106906444B | 公開(公告)日: | 2019-01-04 |
| 發明(設計)人: | 陳彥光 | 申請(專利權)人: | 友達光電股份有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/24 | 分類號: | C23C14/24 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁揮;鮑俊萍 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 坩鍋 | ||
一種坩鍋,包含鍋體及內蓋。鍋體具有空腔。內蓋設置于鍋體的空腔內,并具有第一下表面及至少一孔洞。第一下表面朝向鍋體的底部,并朝鍋體的底部突出,且鍋體的底部與內蓋的第一下表面之間的垂直距離,自第一下表面的邊緣朝第一下表面的中心點漸減少。
技術領域
本發明是有關于一種坩鍋。
背景技術
為了達到多種應用,薄膜可被沉積于基板上,例如,薄膜可用于電子或光學裝置。薄膜結構可以是單層結構或多層結構,其中薄膜的材料可以是金屬、半導體或是絕緣體。于沉積工藝之中,蒸鍍工藝為一個常用的薄膜沉積方法。
蒸鍍設備包含腔體、坩鍋及設置于腔體的載板,其中坩鍋可用來裝填蒸鍍材料。載板為用來支撐其他組件或是使其他組件可朝向坩鍋。于蒸鍍開始進行時,蒸鍍材料為放置于坩鍋內,其中坩鍋為置入于腔體內,接著,可發射電子束至坩鍋。然而,于加熱程序期間,由于監測蒸鍍材料狀態會有一定程度的困難度,使得蒸鍍工藝良率也隨之難以控制。
發明內容
本揭露內容的一實施方式為提供一種坩鍋。于部分實施方式中,坩鍋包含鍋體、內蓋及上蓋。內蓋包含第一下表面及上表面,且外蓋包含第二下表面。于進行蒸鍍工藝的期間,透過第一下表面、上表面及第二下表面,留存于內蓋及外蓋上的液態蒸鍍材料可因重力而流動,并接著下落回鍋體的底部。因此,蒸鍍材料的聚集現象可被抑止,使得目標物(或稱為目標基板)上因蒸鍍工藝而形成的缺陷點可被抑止,從而提升目標物于蒸鍍工藝的良率。
本揭露內容的另一實施方式提供一種坩鍋。于部分實施方式中,坩鍋包含鍋體及內蓋。鍋體具有空腔。內蓋設置于鍋體的空腔內,并具有第一下表面及至少一孔洞。第一下表面朝向鍋體的底部,并朝鍋體的底部突出,且鍋體的底部與內蓋的第一下表面之間的垂直距離,自第一下表面的邊緣朝第一下表面的中心點漸減少。
于部分實施方式中,坩鍋更包含外蓋。外蓋設置于內蓋的上方,并具有開口于其中。
于部分實施方式中,外蓋更包含第二下表面。第二下表面朝向內蓋,并傾斜于鍋體的側壁,且鍋體的底部與外蓋的第二下表面之間的垂直距離,自第二下表面的邊緣朝開口漸增加。
于部分實施方式中,外蓋的第二下表面傾斜于鍋體的側壁,并與鍋體的側壁夾角度θ,且10°≦θ≦20°。
于部分實施方式中,內蓋具有多個孔洞,且孔洞配置于第一下表面的邊緣,以圍繞第一下表面的頂點,其中孔洞至外蓋的垂直投影落于開口之外。
于部分實施方式中,內蓋更包含上表面。上表面朝向外蓋并朝外蓋突出,且鍋體的底部與內蓋的上表面之間的垂直距離,自上表面的邊緣朝上表面的中心點漸增加。
于部分實施方式中,外蓋的第二下表面與內蓋的上表面之間相距距離d,且0.3公分≦d≦0.7公分。
于部分實施方式中,內蓋的第一下表面傾斜于鍋體的側壁,并與鍋體的側壁夾角度θ,且100°≦θ≦110°。
于部分實施方式中,內蓋的第一下表面及上表面為垂直對稱于彼此。
于部分實施方式中,內蓋的其中至少一部分為錐體,且錐體朝鍋體的底部突出,并具有頂點。
附圖說明
圖1A為依據本發明的部分實施方式繪示坩鍋的側剖面示意圖。
圖1B繪示圖1A的坩鍋的內蓋的上視示意圖。
圖2繪示圖1A的坩鍋于進行蒸鍍制期間的側剖面示意圖。
其中,附圖標記:
100 坩鍋
102 鍋體
104 空腔
106 底部
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