[發明專利]異常頻率檢測方法及其電路

有效

• 申請號: 201710243899.3
• 申請日: 2017-04-14
• 公開（公告）號: CN108732422B
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 林湛斐;李奕廷;林煥儒
• 申請（專利權）人: 奇景光電股份有限公司
• 主分類號: G01R23/12
• 分類號: G01R23/12
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 陳松濤;夏青

一種異常頻率檢測方法，用于檢測芯片的輸出頻率信號是否有異常，其中異常頻率檢測方法包括：根據輸出頻率信號來提供第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號，其中輸出頻率信號、第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號的相位互不相同；以及利用第二延遲頻率信號來對第一延遲頻率信號進行取樣，以判斷輸出頻率信號是否發生異常。

技術領域

本揭露實施例涉及一種異常頻率檢測方法及其電路，且特別涉及一種應用于芯片中的異常頻率檢測方法及其電路。

背景技術

隨著科技的進步，電子產品不斷的推陳出新，而使電子產品能夠正常的運作，所依靠的就是準確的頻率信號，讓電子產品內部的芯片可以有順序的處理其所接收到的數據或信號，并于正確的時間傳送至其下一級的電路，或者正確地擷取數據。

在含有高速頻率信號的芯片中，頻率信號是否精準則更是需要重視的測試項目，目前常見的檢測方法是利用測試機臺，然而因為受限于測試機臺的能力，當頻率信號有瞬時的異常或是頻率信號有些微的失真時，通常無法被測試機臺所檢測出來。

發明內容

本揭露的目的在于提出一種異常頻率檢測方法及其電路，其應用于芯片的集成電路中，從而讓使用者能更容易且準確地將具有異常頻率的芯片篩選掉。

根據本揭露的上述目的，提出一種異常頻率檢測方法，用于檢測芯片的輸出頻率信號是否有異常。異常頻率檢測方法包括：根據輸出頻率信號來提供第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號，其中輸出頻率信號、第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號的相位互不相同；以及利用第二延遲頻率信號來對第一延遲頻率信號進行取樣，以判斷輸出頻率信號是否發生異常，其中所述異常頻率檢測方法利用所述第二延遲頻率信號的下降邊緣對所述第一延遲頻率信號進行取樣以檢測所述輸出頻率信號是否頻率過慢，其中當所述第二延遲頻率信號的下降邊緣對所述第一延遲頻率信號進行取樣的結果為低電壓準位則代表所述輸出頻率信號頻率過慢，其中所述異常頻率檢測方法利用所述第二延遲頻率信號的上升邊緣對所述第一延遲頻率信號進行取樣以檢測所述輸出頻率信號是否頻率過快，其中當所述第二延遲頻率信號的上升邊緣對所述第一延遲頻率信號進行取樣的結果為高電壓準位則代表所述輸出頻率信號頻率過快。

在一些實施例中，上述芯片的多相位產生電路用以根據輸出頻率信號來產生之N個延遲頻率信號，其中N個延遲頻率信號與輸出頻率信號的相位互不相同，其中N個延遲頻率信號的其中二者是第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號，其中N為大于等于4的正整數。

在一些實施例中，上述第一延遲頻率信號的相位領先第二延遲頻率信號的相位，其中第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號的相位差介于輸出頻率信號的2/N周期至(N-2)/N周期之間。

根據本揭露的上述目的，另提出一種異常頻率檢測電路，用以判斷芯片的輸出頻率信號是否發生異常。異常頻率檢測電路包含多相位產生電路與取樣電路。多相位產生電路用以根據輸出頻率信號來提供第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號，其中輸出頻率信號、第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號的相位互不相同。取樣電路用以利用第二延遲頻率信號來對第一延遲頻率信號進行取樣，以判斷輸出頻率信號是否發生異常，其中所述取樣電路利用第二延遲頻率信號的下降邊緣對第一延遲頻率信號進行取樣以檢測輸出頻率信號是否頻率過慢，其中當第二延遲頻率信號的下降邊緣對第一延遲頻率信號進行取樣的結果為低電壓準位則代表輸出頻率信號頻率過慢，其中取樣電路利用第二延遲頻率信號的上升邊緣對第一延遲頻率信號進行取樣以檢測輸出頻率信號是否頻率過快，其中當第二延遲頻率信號的上升邊緣對第一延遲頻率信號進行取樣的結果為高電壓準位則代表所述輸出頻率信號頻率過快。

在一些實施例中，上述多相位產生電路用以根據輸出頻率信號來產生N個延遲頻率信號，其中N個延遲頻率信號與輸出頻率信號的相位互不相同，其中N個延遲頻率信號的其中二者是第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號，其中N為大于等于4的正整數。