[發(fā)明專利]異常頻率檢測方法及其電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710243899.3 | 申請日： | 2017-04-14 |
| 公開（公告）號： | CN108732422B | 公開（公告）日： | 2020-09-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 林湛斐;李奕廷;林煥儒 | 申請（專利權(quán)）人： | 奇景光電股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R23/12 | 分類號： | G01R23/12 |
| 代理公司： | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人： | 陳松濤;夏青 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 異常 頻率 檢測 方法 及其 電路 | ||
1.一種異常頻率檢測方法，用于檢測芯片的輸出頻率信號是否有異常，其中所述異常頻率檢測方法包括：
根據(jù)所述輸出頻率信號來提供第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號，其中所述輸出頻率信號、所述第一延遲頻率信號與所述第二延遲頻率信號的相位互不相同；以及
利用所述第二延遲頻率信號來對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣，以判斷所述輸出頻率信號是否發(fā)生異常，
其中所述異常頻率檢測方法利用所述第二延遲頻率信號的下降邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣以檢測所述輸出頻率信號是否頻率過慢，其中當(dāng)所述第二延遲頻率信號的下降邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣的結(jié)果為低電壓準(zhǔn)位則代表所述輸出頻率信號頻率過慢，
其中所述異常頻率檢測方法利用所述第二延遲頻率信號的上升邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣以檢測所述輸出頻率信號是否頻率過快，其中當(dāng)所述第二延遲頻率信號的上升邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣的結(jié)果為高電壓準(zhǔn)位則代表所述輸出頻率信號頻率過快。
2.如權(quán)利要求1所述的異常頻率檢測方法，其中所述芯片的多相位產(chǎn)生電路用以根據(jù)所述輸出頻率信號來產(chǎn)生N個延遲頻率信號，其中所述N個延遲頻率信號與所述輸出頻率信號的相位互不相同，其中所述N個延遲頻率信號其中二者是所述第一延遲頻率信號與所述第二延遲頻率信號，其中N為大于等于4的正整數(shù)。
3.如權(quán)利要求2所述的異常頻率檢測方法，其中所述第一延遲頻率信號的相位領(lǐng)先所述第二延遲頻率信號的相位，其中所述第一延遲頻率信號與所述第二延遲頻率信號的相位差介于所述輸出頻率信號的2/N周期至(N-2)/N周期之間。
4.一種異常頻率檢測電路，用以判斷芯片的輸出頻率信號是否發(fā)生異常，其中所述異常頻率檢測電路包含：
多相位產(chǎn)生電路，用以根據(jù)所述輸出頻率信號來提供第一延遲頻率信號與第二延遲頻率信號，其中所述輸出頻率信號、所述第一延遲頻率信號與所述第二延遲頻率信號的相位互不相同；以及
取樣電路，用以利用所述第二延遲頻率信號來對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣，以判斷所述輸出頻率信號是否發(fā)生異常，
其中所述取樣電路利用所述第二延遲頻率信號的下降邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣以檢測所述輸出頻率信號是否頻率過慢，其中當(dāng)所述第二延遲頻率信號的下降邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣的結(jié)果為低電壓準(zhǔn)位則代表所述輸出頻率信號頻率過慢，
其中所述取樣電路利用所述第二延遲頻率信號的上升邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣以檢測所述輸出頻率信號是否頻率過快，其中當(dāng)所述第二延遲頻率信號的上升邊緣對所述第一延遲頻率信號進(jìn)行取樣的結(jié)果為高電壓準(zhǔn)位則代表所述輸出頻率信號頻率過快。
5.如權(quán)利要求4所述的異常頻率檢測電路，其中所述多相位產(chǎn)生電路用以根據(jù)所述輸出頻率信號來產(chǎn)生N個延遲頻率信號，其中所述N個延遲頻率信號與所述輸出頻率信號的相位互不相同，其中所述N個延遲頻率信號其中二者是所述第一延遲頻率信號與所述第二延遲頻率信號，其中N為大于等于4的正整數(shù)。
6.如權(quán)利要求5所述的異常頻率檢測電路，其中所述第一延遲頻率信號的相位領(lǐng)先所述第二延遲頻率信號的相位，其中所述第一延遲頻率信號與所述第二延遲頻率信號的相位差介于所述輸出頻率信號的2/N周期至(N-2)/N周期之間。
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