[發明專利]一種傳感器線性校正方法和裝置

在審

• 申請號: 201710239605.X
• 申請日: 2017-04-13
• 公開（公告）號: CN106840247A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發明（設計）人: 董揚輝
• 申請（專利權）人: 深圳怡化電腦股份有限公司;深圳市怡化時代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 孟金喆,胡彬

技術領域

本發明實施例涉及電子器件校正技術領域，尤其涉及一種傳感器線性校正方法和裝置。

背景技術

測量系統中經常需要采用線性傳感器件，線性傳感器元件如霍爾傳感器，磁阻傳感器等，這些線性傳感器件雖然在理論上為理想的線性關系，但在實際應用的過程中由于受到電氣以及結構的影響會導致實際應用過程并非理想的線性，因而導致測量系統的精度降低。

現有技術中并未對此種現象做進一步處理，測量系統的測量精度和穩定性低下的問題亟待解決。

發明內容

本發明提供一種傳感器線性校正方法和裝置，以提高傳感器校正過程精度，從而提高測量系統的準確度。

第一方面，本發明實施例提供了一種傳感器線性校正方法，該方法包括：

采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應的校正測量數據；

建立各標準測量物的實際數據與校正測量數據的對應關系，分別將相鄰兩個校正測量數據作為一個校正區間；

通過所述傳感器對待測量物進行測量，以獲取對應的實時測量數據，并確定所述實時測量數據落入的校正區間；

根據所述落入的校正區間內的校正測量數據和與其相對應的實際數據的線性關系，結合所述實時測量數據計算待測量物的實際數據。

優選地，采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應的校正測量數據包括：

對至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用所述傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物相對應的至少兩個備用測量數據；

對所述至少兩個備用測量數據計算均值，以獲取所述每個標準測量物各自對應的校正測量數據。

優選地，采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應的校正測量數據之前，還包括：

對所述傳感器的初始值采集至少兩次，以獲取初始值均值。

優選地，采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應的校正測量數據包括：

對所述至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用所述傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物對應的至少兩個備用測量數據；

分別計算所述至少兩個備用測量數據與初始值均值的差值，以獲取所述每個標準測量物對應的至少兩個備用階躍數據；

對所述至少兩個備用階躍數據計算均值，以獲取每個標準測量物各自對應的校正測量數據。

優選地，建立各標準測量物的實際數據與校正測量數據的對應關系，分別將相鄰兩個校正測量數據作為一個校正區間之后，還包括，將各所述標準測量物的實際數據與校正測量數據的對應關系進行記錄作為校正參數表。

優選地，根據所述落入的校正區間內的校正測量數據和與其相對應的實際數據的線性關系，結合所述實時測量數據計算待測量物的實際數據包括：

從校正參數表中調取與所述落入的校正區間對應的校正參數；

根據落入的校正區間內的校正測量數據和與其相對應的實際數據的線性關系，結合所述校正參數和實時測量數據計算待測量物的實際數據。第二方面，本發明實施例還提供了一種傳感器線性校正裝置，該裝置包括：

校正測量數據獲取模塊，用于采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應的校正測量數據；

校正區間劃分模塊，用于建立各標準測量物的實際數據與校正測量數據的對應關系，分別將相鄰兩個校正測量數據作為一個校正區間；

校正區間確定模塊，用于通過所述傳感器對待測量物進行測量，以獲取對應的實時測量數據，并確定所述實時測量數據落入的校正區間；

校正模塊，用于根據所述落入的校正區間內的校正測量數據和與其相對應的實際數據的線性關系，結合所述實時測量數據計算待測量物的實際數據。

優選地，所述校正測量數據獲取模塊包括：

備用測量數據獲取單元，用于對至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用所述傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物相對應的至少兩個備用測量數據；

校正測量數據計算單元，用于對所述至少兩個備用測量數據計算均值，以獲取所述每個標準測量物各自對應的校正測量數據。

優選地，所述裝置還包括初始值均值獲取模塊，用于對所述傳感器的初始值采集至少兩次，以獲取初始值均值；

所述校正測量數據獲取模塊包括：

備用測量數據獲取單元，用于對所述至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物對應的至少兩個備用測量數據；