[發(fā)明專利]一種傳感器線性校正方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710239605.X
• 申請日: 2017-04-13
• 公開（公告）號: CN106840247A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 董揚輝
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳怡化電腦股份有限公司;深圳市怡化時代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 孟金喆,胡彬

1.一種傳感器線性校正方法，其特征在于，該方法包括：

采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)；

建立各標準測量物的實際數(shù)據(jù)與校正測量數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系，分別將相鄰兩個校正測量數(shù)據(jù)作為一個校正區(qū)間；

通過所述傳感器對待測量物進行測量，以獲取對應(yīng)的實時測量數(shù)據(jù)，并確定所述實時測量數(shù)據(jù)落入的校正區(qū)間；

根據(jù)所述落入的校正區(qū)間內(nèi)的校正測量數(shù)據(jù)和與其相對應(yīng)的實際數(shù)據(jù)的線性關(guān)系，結(jié)合所述實時測量數(shù)據(jù)計算待測量物的實際數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)包括：

對至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用所述傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物相對應(yīng)的至少兩個備用測量數(shù)據(jù)；

對所述至少兩個備用測量數(shù)據(jù)計算均值，以獲取所述每個標準測量物各自對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)之前，還包括：

對所述傳感器的初始值采集至少兩次，以獲取初始值均值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)包括：

對所述至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用所述傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物對應(yīng)的至少兩個備用測量數(shù)據(jù)；

分別計算所述至少兩個備用測量數(shù)據(jù)與初始值均值的差值，以獲取所述每個標準測量物對應(yīng)的至少兩個備用階躍數(shù)據(jù)；

對所述至少兩個備用階躍數(shù)據(jù)計算均值，以獲取每個標準測量物各自對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，建立各標準測量物的實際數(shù)據(jù)與校正測量數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系，分別將相鄰兩個校正測量數(shù)據(jù)作為一個校正區(qū)間之后，還包括，將各所述標準測量物的實際數(shù)據(jù)與校正測量數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系進行記錄作為校正參數(shù)表。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述落入的校正區(qū)間內(nèi)的校正測量數(shù)據(jù)和與其相對應(yīng)的實際數(shù)據(jù)的線性關(guān)系，結(jié)合所述實時測量數(shù)據(jù)計算待測量物的實際數(shù)據(jù)包括：

從校正參數(shù)表中調(diào)取與所述落入的校正區(qū)間對應(yīng)的校正參數(shù)；

根據(jù)落入的校正區(qū)間內(nèi)的校正測量數(shù)據(jù)和與其相對應(yīng)的實際數(shù)據(jù)的線性關(guān)系，結(jié)合所述校正參數(shù)和實時測量數(shù)據(jù)計算待測量物的實際數(shù)據(jù)。

7.一種傳感器線性校正裝置，其特征在于，該裝置包括：

校正測量數(shù)據(jù)獲取模塊，用于采用傳感器對至少二個標準測量物進行測量，以獲取對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)；

校正區(qū)間劃分模塊，用于建立各標準測量物的實際數(shù)據(jù)與校正測量數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系，分別將相鄰兩個校正測量數(shù)據(jù)作為一個校正區(qū)間；

校正區(qū)間確定模塊，用于通過所述傳感器對待測量物進行測量，以獲取對應(yīng)的實時測量數(shù)據(jù)，并確定所述實時測量數(shù)據(jù)落入的校正區(qū)間；

校正模塊，用于根據(jù)所述落入的校正區(qū)間內(nèi)的校正測量數(shù)據(jù)和與其相對應(yīng)的實際數(shù)據(jù)的線性關(guān)系，結(jié)合所述實時測量數(shù)據(jù)計算待測量物的實際數(shù)據(jù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述校正測量數(shù)據(jù)獲取模塊包括：

備用測量數(shù)據(jù)獲取單元，用于對至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用所述傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物相對應(yīng)的至少兩個備用測量數(shù)據(jù)；

校正測量數(shù)據(jù)計算單元，用于對所述至少兩個備用測量數(shù)據(jù)計算均值，以獲取所述每個標準測量物各自對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括初始值均值獲取模塊，用于對所述傳感器的初始值采集至少兩次，以獲取初始值均值；

所述校正測量數(shù)據(jù)獲取模塊包括：

備用測量數(shù)據(jù)獲取單元，用于對所述至少二個標準測量物中的每個標準測量物，采用傳感器測量至少兩次，以獲取所述每個標準測量物對應(yīng)的至少兩個備用測量數(shù)據(jù)；

備用階躍數(shù)據(jù)計算單元，用于分別計算所述至少兩個備用測量數(shù)據(jù)與初始值均值的差值，以獲取所述每個標準測量物對應(yīng)的至少兩個備用階躍數(shù)據(jù)；

校正測量數(shù)據(jù)計算單元，用于對所述至少兩個備用階躍數(shù)據(jù)計算均值，以獲取每個標準測量物各自對應(yīng)的校正測量數(shù)據(jù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括校正參數(shù)記錄模塊，用于將各所述標準測量物的實際數(shù)據(jù)與校正測量數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系進行記錄作為校正參數(shù)表；

所述校正模塊包括：

校正參數(shù)調(diào)取單元，用于從校正參數(shù)表中調(diào)取與所述落入的校正區(qū)間對應(yīng)的校正參數(shù)；

校正計算單元，用于根據(jù)落入的校正區(qū)間內(nèi)的校正測量數(shù)據(jù)和與其相對應(yīng)的實際數(shù)據(jù)的線性關(guān)系，結(jié)合所述校正參數(shù)和實時測量數(shù)據(jù)計算待測量物的實際數(shù)據(jù)。