[發明專利]一種確定巖石溶蝕成因類型的方法及裝置

在審

• 申請號: 201710234603.1
• 申請日: 2017-04-11
• 公開（公告）號: CN107219242A
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 黃成剛;石亞軍;馬新民;李紅哲;楊巍;惠媛媛
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01N23/22
• 分類號: G01N23/22
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 李輝

技術領域

本申請涉及地質勘探技術領域，特別涉及一種確定巖石溶蝕成因類型的方法及裝置。

背景技術

油氣資源一般是儲存在巖石的孔隙中，溶蝕孔隙是一種分布廣泛的孔隙類型。巖石溶蝕孔隙成因類型的確定，是進行儲層評價和尋找優質儲層的重要基礎。巖石溶蝕成因類型一般包括三種：大氣水溶蝕、有機酸溶蝕、深部熱液溶蝕。其中，深部熱液溶蝕特征較為明顯，易于與大氣水溶蝕和有機酸溶蝕區分，而大氣水溶蝕和有機酸溶蝕兩種溶蝕成因類型則較難區分確定。

現有技術中，通常是根據目標巖石儲層的礦物含量與所述目標巖石儲層距離不整合面的距離的關系，確定出所述目標巖石儲層的溶蝕成因類型是否為大氣水溶蝕，根據發生溶蝕的儲層與烴源巖層段的相對位置，估計出所述目標巖石儲層是否發生有機酸溶蝕。這樣就導致：現有技術中需要收集大量數據，通過作圖等方式得到數據之間的變化關系，根據變化關系確定出所述目標巖石儲層的溶蝕成因類型，過程較復雜繁瑣。同時，由于所述變化關系無法直觀地反映出所述目標巖石儲層的溶蝕情況，導致溶蝕成因類型的確定結果的可靠性較低。

現有技術中至少存在如下問題：需要收集大量數據，通過作圖等方式得到數據之間的變化關系，根據變化關系確定出所述目標巖石儲層的溶蝕成因類型，過程較復雜繁瑣，而且所述變化關系無法直觀地反映出所述目標巖石儲層的溶蝕情況，導致溶蝕成因類型的確定結果的可靠性較低。

發明內容

本申請實施例的目的是提供一種確定巖石溶蝕成因類型的方法及裝置，以直觀快捷地確定出巖石的溶蝕成因類型，提高確定結果的可靠性。

本申請實施例提供一種確定巖石溶蝕成因類型的方法及裝置是這樣實現的：

一種確定巖石溶蝕成因類型的方法，所述方法包括：

獲取待測巖石的二次電子圖像；

在所述二次電子圖像中確定出所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像；

根據所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像，確定出所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況；

根據所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況，確定出所述待測巖石的溶蝕成因類型。

優選實施例中，所述根據所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況，確定出所述待測巖石的溶蝕成因類型的方式，包括：

若所述碎屑顆粒部分發生溶蝕，則確定所述待測巖石的溶蝕成因類型為大氣水溶蝕；

若所述碎屑顆粒部分未發生溶蝕且所述基質碳酸鹽巖部分發生溶蝕，則確定所述待測巖石的溶蝕成因類型為有機酸溶蝕。

優選實施例中，所述在所述二次電子圖像中確定出所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像的方式，包括：

根據所述待測巖石的能譜分析數據，確定出所述待測巖石中的基質碳酸巖部分和所述碎屑顆粒部分的二次電子圖像。

優選實施例中，所述獲取待測巖石的二次電子圖像的方式包括：

確定所述待測巖石的待測面；

對所述待測面進行掃描電鏡測試，得到所述待測巖石的二次電子圖像。

優選實施例中，所述對所述待測面進行掃描電鏡測試的方式，包括：

對所述待測面進行拋光處理，得到拋光后的待測面；

對所述拋光后的待測面鍍導電層，得到鍍導電層后的待測面；

對所述鍍導電層后的待測面進行掃描電鏡測試，得到所述待測面的二次電子圖像。

優選實施例中，所述拋光處理包括氬離子拋光處理。

一種確定巖石溶蝕成因類型的裝置，所述裝置包括：

二次電子圖像獲取模塊，用于獲取待測巖石的二次電子圖像；

二次電子圖像確定模塊，用于在所述二次電子圖像中確定出所述待測巖石的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像；

溶蝕情況確定模塊，用于根據所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像，確定出所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況；

溶蝕成因類型確定模塊，用于根據所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況，確定出所述待測巖石的溶蝕成因類型。

優選實施例中，所述二次電子圖像獲取模塊包括：

預處理模塊，用于對所述待測巖石進行二次電子圖像測試前的預處理；

掃描電子顯微鏡，用于測試得到所述預處理后的所述待測巖石的二次電子圖像。

優選實施例中，所述二次電子圖像確定模塊包括：