[發明專利]一種確定巖石溶蝕成因類型的方法及裝置

在審

• 申請號: 201710234603.1
• 申請日: 2017-04-11
• 公開（公告）號: CN107219242A
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 黃成剛;石亞軍;馬新民;李紅哲;楊巍;惠媛媛
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01N23/22
• 分類號: G01N23/22
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 李輝

1.一種確定巖石溶蝕成因類型的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待測巖石的二次電子圖像；

在所述二次電子圖像中確定出所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像；

根據所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像，確定出所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況；

根據所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況，確定出所述待測巖石的溶蝕成因類型。

2.如權利要求1所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的方法，其特征在于，所述根據所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況，確定出所述待測巖石的溶蝕成因類型的方式，包括：

若所述碎屑顆粒部分發生溶蝕，則確定所述待測巖石的溶蝕成因類型為大氣水溶蝕；

若所述碎屑顆粒部分未發生溶蝕且所述基質碳酸鹽巖部分發生溶蝕，則確定所述待測巖石的溶蝕成因類型為有機酸溶蝕。

3.如權利要求1所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的方法，其特征在于，所述在所述二次電子圖像中確定出所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像的方式，包括：

根據所述待測巖石的能譜分析數據，確定出所述待測巖石中的基質碳酸巖部分和所述碎屑顆粒部分的二次電子圖像。

4.如權利要求1所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的方法，其特征在于，所述獲取待測巖石的二次電子圖像的方式包括：

確定所述待測巖石的待測面；

對所述待測面進行掃描電鏡測試，得到所述待測巖石的二次電子圖像。

5.如權利要求4所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的方法，其特征在于，所述對所述待測面進行掃描電鏡測試的方式，包括：

對所述待測面進行拋光處理，得到拋光后的待測面；

對所述拋光后的待測面鍍導電層，得到鍍導電層后的待測面；

對所述鍍導電層后的待測面進行掃描電鏡測試，得到所述待測面的二次電子圖像。

6.如權利要求5所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的方法，其特征在于，所述拋光處理包括氬離子拋光處理。

7.一種確定巖石溶蝕成因類型的裝置，其特征在于，所述裝置包括：

二次電子圖像獲取模塊，用于獲取待測巖石的二次電子圖像；

二次電子圖像確定模塊，用于在所述二次電子圖像中確定出所述待測巖石的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像；

溶蝕情況確定模塊，用于根據所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和碎屑顆粒部分的二次電子圖像，確定出所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況；

溶蝕成因類型確定模塊，用于根據所述基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的溶蝕情況，確定出所述待測巖石的溶蝕成因類型。

8.如權利要求7所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的裝置，其特征在于，所述二次電子圖像獲取模塊包括：

預處理模塊，用于對所述待測巖石進行二次電子圖像測試前的預處理；

掃描電子顯微鏡，用于測試得到所述預處理后的所述待測巖石的二次電子圖像。

9.如權利要求7所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的裝置，其特征在于，所述二次電子圖像確定模塊包括：

能譜測試模塊，用于測試得到所述待測巖石的能譜分析數據；

圖像區域確定模塊，用于根據所述待測巖石的能譜分析數據，確定出所述待測巖石中的基質碳酸鹽巖部分和所述碎屑顆粒部分的二次電子圖像。

10.如權利要求8所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的裝置，其特征在于，所述預處理模塊包括：

切割磨平模塊，用于確定所述待測巖石的待測面；

拋光處理模塊，用于對所述待測巖石的待測面進行拋光處理；

導電層噴鍍模塊，用于對所述拋光處理后的所述待測面鍍導電層。

11.如權利要求10所述的一種確定巖石溶蝕成因類型的裝置，其特征在于，所述拋光處理包括氬離子拋光處理。