[發(fā)明專利]一種嵌入式存儲(chǔ)器自適應(yīng)工作參數(shù)調(diào)整方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710228681.0
• 申請(qǐng)日: 2017-04-10
• 公開（公告）號(hào): CN107123444B
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李強(qiáng);席與凌;高金德
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/56
• 分類號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 上海天辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 吳世華;陳慧弘

本發(fā)明提供了一種嵌入式存儲(chǔ)器自適應(yīng)工作參數(shù)調(diào)整方法，包括：設(shè)定參數(shù)調(diào)整目標(biāo)M；動(dòng)態(tài)生成DAC__i的掃描基準(zhǔn)值DAC__{基準(zhǔn)}；i為≥1；基于動(dòng)態(tài)生成的掃描基準(zhǔn)值DAC__{基準(zhǔn)}，判斷后續(xù)DAC__i+1的空間檔位調(diào)整方向通過掃描基準(zhǔn)值DAC__{基準(zhǔn)}，動(dòng)態(tài)調(diào)整掃描起點(diǎn)，本發(fā)明分考慮到晶圓間以及晶圓內(nèi)芯片周邊環(huán)境工藝和器件差別對(duì)最終DAC參數(shù)調(diào)整空間檔位的影響，明顯減少當(dāng)前待測(cè)芯片的調(diào)整檔位數(shù)，從而減少了DAC掃描測(cè)試時(shí)間。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種嵌入式存儲(chǔ)器自適應(yīng)工作參數(shù)調(diào)整方法。

背景技術(shù)

隨著嵌入式閃存工藝技術(shù)節(jié)點(diǎn)的演進(jìn)，目前已經(jīng)進(jìn)入55nm乃至40nm節(jié)點(diǎn)。。嵌入式閃存的工作需要對(duì)應(yīng)的電路來提供擦寫、編程的高壓和讀取單元數(shù)據(jù)的一些模擬信號(hào)(參考電壓、電流等)。邏輯器件隨著工藝的持續(xù)微縮，性能越來越好，功耗越低。但是嵌入式閃存單元，隨著特征尺寸的持續(xù)微縮，閃存單元工作區(qū)間窗口變小、variation變大、可靠性性能也降低，對(duì)擦寫的條件(高壓、時(shí)間)的在不同環(huán)境下的工作(精準(zhǔn)度等)特性提出了越來越高的要求。支持閃存工作的模擬電路參數(shù)容易受到工藝和器件批次到批次(lot to lot)或者晶圓到晶圓(die to die)波動(dòng)的影響。為了減少這種影響，目前的做法是對(duì)支持閃存單元工作的電路在設(shè)計(jì)階段預(yù)留出一定范圍的調(diào)整空間，在晶圓級(jí)測(cè)試(CP)時(shí)通過對(duì)每個(gè)芯片的設(shè)計(jì)檔位范圍內(nèi)進(jìn)行電路參數(shù)的尋找、設(shè)置(TRIM)，調(diào)整支持電路的特性輸出f(DAC)，使得支持電路的工作特性滿足設(shè)計(jì)預(yù)期，抵消工藝和器件的波動(dòng)對(duì)電路特性的影響。能夠找到預(yù)定參數(shù)的芯片可判定為好(Good)芯片，不能夠找到預(yù)定參數(shù)的芯片則判定為失效芯片，需要在CP測(cè)試階段篩除。

這樣的解決方案雖然可以動(dòng)態(tài)調(diào)整每個(gè)芯片的工作參數(shù)，但是需要針對(duì)每顆芯片進(jìn)行設(shè)計(jì)全范圍內(nèi)電路參數(shù)重復(fù)進(jìn)行掃描，每個(gè)芯片特性掃描輸出曲線不一致，如圖1所示，造成找到預(yù)定規(guī)格的目標(biāo)值的掃描檔位和時(shí)間也不一致，如圖2所示，嚴(yán)重影響到測(cè)試時(shí)間和測(cè)試復(fù)雜性。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服以上問題，本發(fā)明旨在提供一種嵌入式存儲(chǔ)器自適應(yīng)工作參數(shù)調(diào)整方法，從而提高參數(shù)調(diào)整效率。

為了達(dá)到上述問題，本發(fā)明提供給了一種嵌入式存儲(chǔ)器自適應(yīng)工作參數(shù)調(diào)整方法，其包括：

步驟01：設(shè)定參數(shù)調(diào)整目標(biāo)M；

步驟02：動(dòng)態(tài)生成DAC__i的掃描基準(zhǔn)值DAC__{基準(zhǔn)}；i為≥1；

步驟03：基于步驟02中動(dòng)態(tài)生成的掃描基準(zhǔn)值DAC__{基準(zhǔn)}，判斷后續(xù)DAC__i+1的參數(shù)調(diào)整空間檔位調(diào)整方向。

優(yōu)選地，步驟03具體包括：

步驟031：利用DAC__max減去DAC__{基準(zhǔn)}或DAC__min減去DAC__{基準(zhǔn)}，來計(jì)算D__max或DAC__min的參數(shù)調(diào)整空間檔位；

步驟032：搜索出對(duì)應(yīng)于參數(shù)調(diào)整目標(biāo)M的參數(shù)調(diào)整空間檔位；

步驟033：若為否，則重復(fù)步驟01～032；若為是，則結(jié)束。