[發明專利]一種嵌入式存儲器自適應工作參數調整方法

有效

• 申請號: 201710228681.0
• 申請日: 2017-04-10
• 公開（公告）號: CN107123444B
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發明（設計）人: 李強;席與凌;高金德
• 申請（專利權）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 吳世華;陳慧弘

1.一種嵌入式存儲器自適應工作參數調整方法，其特征在于，包括：

步驟01：設定參數調整目標M；

步驟02：動態生成DAC__i的掃描基準值DAC__基準；i為≥1；DAC表示電路設計的參數調整檔位步數標記；

步驟03：基于步驟02中動態生成的掃描基準值DAC__基準，判斷后續DAC__i+1的參數調整空間檔位調整方向；

其中，步驟03具體包括：

步驟031：利用DAC__max減去DAC__基準或DAC__min減去DAC__基準，來計算D__max或DAC__min的參數調整空間檔位；

步驟032：搜索出對應于參數調整目標M的參數調整空間檔位；

步驟033：若為否，則重復步驟01～032；若為是，則結束；

其中，所述步驟031具體包括：比較在DAC__基準和DAC__min下的存儲器的電路特性的輸出信號f(DAC__基準)和f(DAC__min)，若f(DAC__基準)＞M，則掃描整個DAC__基準和DAC__min的參數調整空間檔位的電路特性；否則，則掃描整個DAC__基準和DAC__max的參數調整空間檔位的電路特性。

2.根據權利要求1所述的嵌入式存儲器自適應工作參數調整方法，其特征在于，步驟02中，動態生成DAC__i的掃描基準值DAC__基準，包括：當i為1時，掃描基準值DAC__基準為上一個晶圓的DAC分布值的平均值；當i不為1時，掃描基準值DAC__基準為待測的晶圓周邊局部DAC的加權平均值。