[發(fā)明專利]一種用于等離子體光譜測量校正的內(nèi)標(biāo)物及引入方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710220124.4 | 申請日: | 2017-04-06 |
| 公開(公告)號: | CN107064280B | 公開(公告)日: | 2019-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 段旭川 | 申請(專利權(quán))人: | 天津師范大學(xué) |
| 主分類號: | G01N27/62 | 分類號: | G01N27/62 |
| 代理公司: | 天津市杰盈專利代理有限公司 12207 | 代理人: | 朱紅星 |
| 地址: | 300387 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 內(nèi)標(biāo)物 二氧化碳 等離子體光譜 引入 樣品測定 內(nèi)標(biāo) 校正 匹配 測量 恒定 二氧化碳?xì)饬?/a> 內(nèi)標(biāo)法測定 待測溶液 任一位置 樣品進(jìn)樣 等離子 矩管 離線 脫除 發(fā)射 應(yīng)用 | ||
1.一種用于等離子體光譜測量校正內(nèi)標(biāo)物的引入方法,其特征在于:
首先在線或離線脫除待測溶液本身含有的二氧化碳,然后在儀器進(jìn)樣系統(tǒng)到等離子矩管火焰端處任一位置引入0.5-200ppm的二氧化碳?xì)饬鳎ㄟ^測量待測元素和二氧化碳中的碳的發(fā)射強度來進(jìn)行內(nèi)標(biāo)法測定;其中所述的樣品進(jìn)樣系統(tǒng)到等離子矩管火焰端處任一位置引入二氧化碳?xì)饬髦傅氖牵涸诘入x子矩管火焰端處,利用等離子體在點燃后直接和周圍空氣中的微量二氧化碳接觸使碳電離發(fā)光,作為內(nèi)標(biāo)測量;內(nèi)標(biāo)二氧化碳被引入是在用于等離子形成的供氣系統(tǒng)中加入0.5-100ppm二氧化碳?xì)饬鳎黄渲挟?dāng)內(nèi)標(biāo)二氧化碳是經(jīng)過等離子形成的供氣系統(tǒng)中被引入時,二氧化碳?xì)怏w配氣于鋼瓶氣源中,或配氣于等離子矩管的冷卻氣、輔助氣或載氣之中。
2.要求1所述的引入方法,其中當(dāng)內(nèi)標(biāo)二氧化碳是經(jīng)過進(jìn)樣系統(tǒng)中被引入時,它是將低濃度的碳酸鈉或碳酸氫鈉溶液連續(xù)與脫氣后的酸性樣品溶液混合,使之全部轉(zhuǎn)化成二氧化碳;其中碳酸鈉或碳酸氫鈉溶液的濃度為5-2000ppm。
3.利要求1所述用于等離子體光譜測量校正內(nèi)標(biāo)物引入的方法在用于難有內(nèi)標(biāo)元素匹配的樣品測定方面的應(yīng)用。
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