[發明專利]適用于礦物學參數自動測量系統的樣品制樣方法在審
| 申請號: | 201710218947.3 | 申請日: | 2017-04-05 |
| 公開(公告)號: | CN107014663A | 公開(公告)日: | 2017-08-04 |
| 發明(設計)人: | 王艷;高歌;陳健龍;王銅 | 申請(專利權)人: | 長春黃金研究院 |
| 主分類號: | G01N1/36 | 分類號: | G01N1/36 |
| 代理公司: | 吉林長春新紀元專利代理有限責任公司22100 | 代理人: | 魏征驥 |
| 地址: | 130000 吉林*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 適用于 礦物學 參數 自動 測量 系統 樣品 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種制樣的方法,尤其應用于MLA(Mineral liberation Analyser)即礦物學參數自動測量系統,特別適用于礦石樣品粒度較細,50um以下的待測樣品的制作,也可用作顯微鏡及電子探針、掃描電鏡等儀器觀測樣品的制做。
背景技術
隨著礦物學參數自動測量系統的引入,工藝礦物學領域進入一個全新的時代,其快速、準確的測量結果,使我們日常的工藝礦物學工作的開展事半功倍。然而前期測量試樣的制作過程則是整個測量過程中最關鍵的一步,所制作試樣的可代表性直接關系到后續出具的數據及結論的準確程度。特別是對于50um以下的礦石產品樣品,由于其粒度細,不容易分散,按目前方法制作出的用于電鏡及金相顯微鏡下可供觀測的樣品,使測量數據不能夠真實準確的體現出來。
發明內容
本發明提供一種適用于礦物學參數自動測量系統的樣品制樣方法,以解決細粒級的礦石樣品在礦物學參數自動測量系統以及掃描電鏡、電子顯微鏡下難以檢測,測量數據不夠真實準確的問題。
本發明采取的技術方案是:包括下列步驟:
(1)取1g-3g具有代表性的礦石樣品,確保礦石樣品干燥無結塊后混勻,裝入事先涂抹好防粘油的模具內,自動礦物學參數測量系統所用試樣的模具是內徑30mm,高度30mm的圓柱狀塑料模具;
(2)按照比例配制樹脂膠,一個樹脂光片需要配制7ml的樹脂膠,將配制好的樹脂膠充分混合攪拌均勻,為了減少氣泡生成,攪拌的過程要沿一個方向緩慢攪拌;
(3)將攪拌均勻的樹脂膠注入裝有礦石樣品的模具內,沿一個方向輕輕攪拌,確保礦樣不粘在底部與模具邊角,使礦樣與樹脂膠充分混合均勻;
(4)將步驟(3)攪拌后的模具放入超聲波震蕩器中,震蕩30min,震蕩的作用是為了清除樹脂膠混合物中的小氣泡,使礦樣跟樹脂膠充分混合并分散其中;
(5)震蕩完成后將模具取出,再移入烘箱,50℃烘烤2h,模具放入烘箱時要確保模具底部水平;
(6)2h后取出烘箱中的模具并冷卻30~40min,待混合物完全冷卻后,樹脂膠混合物已完全硬化、質感堅硬時,第一次制樣成功,脫模取出樹脂光片一;
(7)將步驟(6)中制成的樹脂光片一用切片機縱向切割,即沿著與樹脂光片一直徑平行且與該直徑的距離為0.5~1.0mm處縱向切割,選取切割下的、相對小的作為樹脂光片二,其剖切截面為矩形AA’B’B,在距該矩形剖切截面3~3.3mm的平面處再次用切片機切割,將兩次切割平面間的樹脂光片二作為樹脂光片三;
(8)、將步驟(7)中所述剖切合格后的樹脂光片三剖切面用酒精清洗干凈,晾干后裝入涂好防粘油的模具內,該模具為自動礦物學參數測量系統所用試樣的模具,為內徑30mm,高度30mm的圓柱狀塑料模;放置樹脂光片三時要確保剖切橫截面AA’B’B始終朝下,再取修剪成10mm×20mm的小紙條,寫好樣品編號及名稱,制成標簽置于樹脂光片三之上;
(9)二次制樣時配制的樹脂膠同步驟(2),樹脂膠配制完成后,倒入步驟(8)中裝有剖切樹脂光片三和標簽的模具內,再將模具送入烘箱,50℃烘烤2小時,2小時后取出模具冷卻,待冷卻至樹脂光片堅硬后,再脫模取出樹脂光片,完成樹脂光片四的制作。
(10)制作好的樹脂光片四如圖4中所示面,經過粗磨、細磨、精磨及拋光后,再給表面做噴碳處理,至此礦物學參數自動測量系統檢測用樣品制作完成。
本發明采用的是礦樣混合樹脂膠進行冷嵌的方法,第一次冷嵌完成的樹脂光片再剖切,進行二次樹脂鑲嵌法,這樣可以避免由于第一次鑲嵌時造成的礦物顆粒輕重分層,檢測時代表性不全面的問題。經過二次鑲嵌后的樹脂光片通過粗磨、細磨、精磨、拋光及表面導電處理后,制作成表面磨光面好,礦物代表性全面及具有良好導電性的礦物樣品光片,此種方法制作的光片可適用于自動礦物學測量系統檢測,也適用于電子探針、掃描電鏡及金相顯微鏡下檢測。
本發明利用混合樹脂膠二次冷嵌的方法所制做的樣品具有分散性好,清晰易觀察,礦物種類涵蓋全面,代表性強等特點,且制樣過程簡單易操作,實用性強,應用廣泛。采用本發明的制樣方法是目前以來最簡單有效,且易操作的一種工藝方法。
本發明的制樣方法可以解決細粒級的礦石樣品在鏡下難以觀察這一困難,所制樣品不僅可以用于礦物學參數自動測量系統的測量,也可用于電子探針、掃描電鏡以及其它各種金相顯微鏡觀測,此方法所制樹脂光片磨光面好,礦物種類及粒度涵蓋全面,具有很強的代表性。且制樣過程簡單易操作,實用性強,應用廣泛。
附圖說明
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