[發(fā)明專利]一種電容式觸控按鍵芯片檢測標定系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710218933.1
• 申請日: 2017-04-06
• 公開（公告）號: CN107037352B
• 公開（公告）日: 2020-01-17
• 發(fā)明（設計）人: 龐新潔
• 申請（專利權）人: 芯海科技(深圳)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 44324 深圳市神州聯(lián)合知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 王志強

1.一種電容式觸控按鍵芯片檢測標定系統(tǒng)，其特征在于該系統(tǒng)包括有插入檢測及標定模塊、通信控制及寄存器配置模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、按鍵處理模塊、對比分析模塊、差錯處理模塊、電源控制模塊和終端控制模塊，所述插入檢測及標定模塊、通信控制及寄存器配置模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、按鍵處理模塊、對比分析模塊、差錯處理模塊、電源控制模塊、終端控制模塊集成于ARM處理器中；

所述插入檢測及標定模塊，是對所接觸芯片管腳的電氣連接特性進行檢測，對被測芯片的燒錄接口及其他通信管腳進行連接性檢查即開短路測試；

所述數(shù)據(jù)存儲模塊是存放文件索引表、客戶hex的代燒錄程序文件、觸控按鍵檢測hex文件、芯片型號及標識信息及芯片設計指標數(shù)據(jù)；

所述通信控制及寄存器配置模塊，包含研發(fā)測試模式下和批量測試模式下的人機交互處理和寄存器配置的功能；

所述按鍵處理模塊，包含觸摸芯片按鍵檢測和輸入按鍵檢測兩個部分，觸摸芯片按鍵檢測是檢測觸控按鍵的靈敏度，進而根據(jù)分析對比方法來判斷芯片觸控指標性能的優(yōu)劣；輸入按鍵檢測是檢測在批量測試模式下人機接口，主要完成用戶輸入的命令和數(shù)據(jù)的操作，完成批量測試模式下觸控按鍵芯片性能的激勵輸入；

所述對比分析模塊，是對利用標準模塊和被測芯片的觸控按鍵依據(jù)檢測原理對檢測到的數(shù)據(jù)進行對比分析，被測芯片按鍵處理模塊將采集到的數(shù)據(jù)傳送給對比分析模塊，對比分析模塊運行標準檢測單元采集同源觸控信息，然后將觸控信息和設計標準進行對比分析，進而得到在不同模式下所需要的觸控按鍵性能差別信息；

所述差錯處理模塊，是檢測上下位機之間通信數(shù)據(jù)幀是否正確、判斷USB插入的錯誤處理、被測芯片管腳是否接觸良好和觸控按鍵時鐘頻率標定出錯處理；

所述電源控制模塊，包含被測芯片燒錄電壓控制和被測芯片供電電壓控制，被測芯片燒錄電壓控制是PC端通過發(fā)送指令實現(xiàn)對不同ID類型芯片輸出不同燒錄電壓的操作；被測芯片供電電壓控制是控制多個芯片中指定芯片供電或者掉電的控制；

所述終端控制模塊，包含PC控制和LCD顯示終端等兩個部分，負責不同模式下測試執(zhí)行的人機接口，不同工作模式下系統(tǒng)可自動切換顯示方式，也能夠在研發(fā)測試階段由PC控制選擇顯示方式。

2.如權利要求1所述的電容式觸控按鍵芯片檢測標定系統(tǒng)，其特征在于所述插入檢測及標定模塊的開短路測試，分為管腳開路和管腳短路兩種方式的檢測，兩種檢測方式以提示用戶燒錄接口的電氣連接是否正常，以保證后續(xù)測試和操作的有效性。

3.如權利要求1所述的電容式觸控按鍵芯片檢測標定系統(tǒng)，其特征在于所述通信控制及寄存器配置模塊，研發(fā)測試模式下主要是接收PC端發(fā)送的控制命令，利用ARM處理器內置的USB模塊實現(xiàn)對USB電源管理、USB描述符、USB枚舉、USB讀寫傳輸、端點分配管理、命令解析和數(shù)據(jù)傳輸，調試根據(jù)解析的數(shù)據(jù)提取出命令和數(shù)據(jù)，然后將配置數(shù)據(jù)通過寄存器配置模塊對被測芯片進行相應的讀寫操作；批量測試模式下主要是接收按鍵信息，提取出相應的功能及配置數(shù)據(jù)，然后根據(jù)配置數(shù)據(jù)進行寄存器的讀寫操作，完成此模式下的功能配置。

4.如權利要求1所述的電容式觸控按鍵芯片檢測標定系統(tǒng)，其特征在于所述差錯處理模塊實現(xiàn)各功能模塊在程序運行過程的錯誤處理機制、數(shù)據(jù)的效驗機制，數(shù)據(jù)出錯處理及數(shù)據(jù)重傳，超時處理；系統(tǒng)與被測芯片在通信中數(shù)據(jù)的讀寫需要相應的等待時間，如果超出程序設定的時間則會進行溢出處理；效驗處理，當接收到的效驗碼與計算出的效驗碼不匹配時丟棄本次數(shù)據(jù)，重新接收。