[發明專利]一種鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置

在審

• 申請號: 201710217010.4
• 申請日: 2017-04-05
• 公開（公告）號: CN106872065A
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 張曉云;蒼曉晨;張家驥
• 申請（專利權）人: 北京郡北科磁性科技有限公司
• 主分類號: G01K7/02
• 分類號: G01K7/02;G01K7/18
• 代理公司: 北京奧翔領智專利代理有限公司11518
• 代理人: 路遠

技術領域

本發明涉及電子元件領域，尤其涉及一種鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置。

背景技術

在軟磁非晶行業中，為了精確控制初始晶化開始階段的工藝溫度，確認鐵基非晶磁芯開始晶化時的溫度參數，是工廠提高產品合格率、合理制定磁芯的熱處理工藝的重要依據。在有條件的情況下，往往購買成套熱分析儀(如DTA或DSC)進行測量，但購置儀器成本很高。

而且，這些儀器測量時，所需要的測量樣品通常只有幾克重，測出的磁芯開始晶化時的溫度參數只與測量樣品的材質有關，與實際磁芯大小重量無關。但是在工廠實際操作中發現，對于材質相同但尺寸重量不同的磁芯工件，如果以一定升溫速度進行晶化熱處理時，其晶化開始發熱的溫度上升的行為是不同的，其晶化發熱過程非常復雜，例如，起始超溫溫度偏離，超溫幅度加大等，上述儀器所測得的磁芯開始晶化時的溫度數據只起參考作用，而現場發熱經常使磁芯發生過燒，影響產品的性能和質量。

因此，研發更加契合生產實際、更加簡易直觀和能更有效準確地測定磁芯在熱處理工藝過程中的初始晶化溫度參數與尺寸等相關的實用測量裝置尤為必要。

發明內容

本發明針對以上現有技術中的缺陷提供了一種鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，該測量裝置能夠有效準確地測出磁芯在熱處理工藝過程中初始晶化溫度參數與尺寸等的關聯關系，且成本極低。

本發明是通過以下技術方法實現的：

一種鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，包括設有空腔的爐體1、馬弗管3、多組電阻絲5和樣品盒6，所述馬弗管3橫穿于所述爐體1的空腔，所述電阻絲5設置于所述馬弗管3與所述爐體1之間，所述樣品盒6位于所述馬弗管3的內部中央，所述樣品盒6內靠近樣品的位置設置第一熱電偶8；所述馬弗管3內設置用于控制爐溫的第二熱電偶9。

進一步的，所述電阻絲5包圍馬弗管3呈管狀分布，所述電阻絲5包圍區域形成均溫區。

進一步的，所述均溫區內的溫度誤差小于±2℃。

進一步的，所述均溫區的升溫速度為5℃/min。

進一步的，所述第二熱電偶9設置于所述均溫區內。

進一步的，還包括程序控制器10，所述程序控制器10設置于所述馬弗管3的外部，所述程序控制器10與所述第二熱電偶9、所述電阻絲5電連接。

進一步的，所述電阻絲5為單組功率控制。

進一步的，所述第一熱電偶8和第二熱電偶的外側均設置有電偶保護管11。

進一步的，所述爐體1的內側設置保溫層4。

進一步的，所述馬弗管3內注入有純氮保護氣。

與現有技術相比，本發明至少具有以下優點：

本發明提供的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，可以更接近現場的熱處理條件，能夠有效準確地測出磁芯在熱處理工藝過程中初始晶化溫度參數與尺寸等的關聯關系，對工廠制定更合理的熱處理工藝程序提供了重要指導作用。且該測量裝置成本極低，有利于大規模生產及推廣應用。

附圖說明

圖1為本發明提供的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置的結構示意圖；

圖2為本發明提供的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置縱向剖面示意圖；

圖3為本發明提供的實施例中測定鐵基非晶樣品時第一熱電偶8和第二熱電偶9的溫度曲線變化圖。

附圖標記說明：

1-爐體；

3-馬弗管；

4-保溫層；

5-電阻絲；

6-樣品盒；

7-樣品；

8-第一熱電偶；

9-第二熱電偶；

10-程序控制器；

11-電偶保護管。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本發明實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。因此，以下對在附圖中提供的本發明的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本發明的范圍，而是僅僅表示本發明的選定實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本發明，而不能理解為對本發明的限制。

下面將參照附圖和具體實施例對本發明作進一步的說明。