[發(fā)明專利]一種鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置

在審

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• 申請日: 2017-04-05
• 公開（公告）號: CN106872065A
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張曉云;蒼曉晨;張家驥
• 申請（專利權(quán)）人: 北京郡北科磁性科技有限公司
• 主分類號: G01K7/02
• 分類號: G01K7/02;G01K7/18
• 代理公司: 北京奧翔領(lǐng)智專利代理有限公司11518
• 代理人: 路遠

1.一種鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，包括設(shè)有空腔的爐體(1)、馬弗管(3)、多組電阻絲(5)和樣品盒(6)，所述馬弗管(3)橫穿于所述爐體(1)的空腔，所述電阻絲(5)設(shè)置于所述馬弗管(3)與所述爐體(1)之間，所述樣品盒(6)位于所述馬弗管(3)的內(nèi)部中央，所述樣品盒(6)內(nèi)靠近樣品的位置設(shè)置第一熱電偶(8)；所述馬弗管(3)內(nèi)設(shè)置用于控制爐溫的第二熱電偶(9)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述電阻絲(5)包圍馬弗管(3)呈管狀分布，所述電阻絲(5)包圍區(qū)域形成均溫區(qū)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述均溫區(qū)內(nèi)的溫度誤差小于±2℃。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述均溫區(qū)的升溫速度為5℃/min。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述第二熱電偶(9)設(shè)置于所述均溫區(qū)內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，還包括程序控制器(10)，所述程序控制器(10)設(shè)置于所述馬弗管(3)的外部，所述程序控制器(10)與所述第二熱電偶(9)、所述電阻絲(5)電連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述電阻絲(5)為單組功率控制。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述第一熱電偶(8)和第二熱電偶的外側(cè)均設(shè)置有電偶保護管(11)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述爐體(1)的內(nèi)側(cè)設(shè)置保溫層(4)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵基非晶磁芯初始晶化溫度的測量裝置，其特征在于，所述馬弗管(3)內(nèi)注入有純氮保護氣。