[發(fā)明專利]傳送及保護晶圓的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710209058.0 | 申請日: | 2017-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN108666250B | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張瑞堂 | 申請(專利權(quán))人: | 奇景光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/673 | 分類號: | H01L21/673 |
| 代理公司: | 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;鄭特強 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 傳送 保護 裝置 | ||
本發(fā)明提出一種傳送及保護晶圓的裝置,其包含晶圓容器;多個晶圓卡匣,設(shè)于晶圓容器內(nèi);嚙合鎖,用以避免多個晶圓卡匣產(chǎn)生移位,該嚙合鎖直接接觸于多個晶圓卡匣的側(cè)壁。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明設(shè)計一種晶圓卡匣(wafer cassette),尤其涉及一種傳送及保護晶圓的裝置。
背景技術(shù)
晶圓卡匣是一種用以夾持晶圓的裝置,以利傳送于設(shè)備之間以進行晶圓的處理或量測。儲存于晶圓卡匣的晶圓可使用機械手(robotic hand)或牙叉 (fork)將其取出或置入。
符合標(biāo)準機械接口(Standard Mechanical InterFace,SMIF)規(guī)格的傳送盒可提供一小型環(huán)境,具有受控制的氣流、壓力及粒子數(shù)量,用以隔離晶圓免受到污染。前開式晶圓傳送盒(Front Opening Unified Pod,FOUP)是另一種規(guī)格,用以穩(wěn)固且安全地夾持晶圓于受控制的環(huán)境中,使得晶圓得以傳送于設(shè)備之間以進行處理或量測。
為了提高效率,傳統(tǒng)的傳送盒內(nèi)通常設(shè)置有一個以上的晶圓卡匣。然而,由于晶圓卡匣是個別的置入傳送盒內(nèi),因此當(dāng)使用機器人系統(tǒng)的機械手臂來存取晶圓時,傳統(tǒng)傳送盒的操作精確度很低。
當(dāng)移動傳送盒時,為了避免其內(nèi)的晶圓卡匣與晶圓不會產(chǎn)生移位,需要使用機制以穩(wěn)固夾持多個晶圓卡匣。然而,傳統(tǒng)機制容易因為制造公差而損壞晶圓卡匣內(nèi)的晶圓。此外,當(dāng)存取傳統(tǒng)晶圓卡匣內(nèi)的晶圓時,機械手的前端經(jīng)常因為錯位而意外地撞到晶圓卡匣的側(cè)壁。
因此,亟需提出一種新穎的裝置以傳送及保護晶圓,并改善傳統(tǒng)傳送盒的缺失。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述,本發(fā)明實施例的目的之一在于提出一種具有高操作精確度的裝置,以傳送及保護晶圓,且可防止晶圓損壞或避免晶圓卡匣的側(cè)壁被撞到。
根據(jù)本發(fā)明實施例,傳送及保護晶圓的裝置包含晶圓容器、多個晶圓卡匣及嚙合鎖。所述多個晶圓卡匣設(shè)于晶圓容器內(nèi)。嚙合鎖避免所述多個晶圓卡匣產(chǎn)生移位,且嚙合鎖直接接觸于所述多個晶圓卡匣的側(cè)壁。
根據(jù)本發(fā)明另一實施例,傳送及保護晶圓的裝置包含晶圓容器及多個晶圓卡匣。所述多個晶圓卡匣設(shè)于晶圓容器內(nèi),且設(shè)于晶圓容器的所有面。
本發(fā)明的有益效果在于,本發(fā)明提出的傳送及保護晶片的裝置,具有高操作精確度,以傳送及保護晶片,且可防止晶片損壞或避免晶片卡匣的側(cè)壁被撞到。
附圖說明
圖1的透視圖顯示本發(fā)明實施例的傳送及保護晶圓的裝置。
圖2A的俯視圖顯示本發(fā)明實施例圖1的裝置的嚙合鎖。
圖2B顯示圖2A的嚙合鎖的透視圖。
圖3A顯示本發(fā)明實施例的裝置的部分俯視圖。
圖3B顯示圖3A的部分裝置的透視圖。
其中,附圖標(biāo)記說明如下:
11 遮罩
12 底座
13 晶圓卡匣
14 物件
15 托架
31 遠端
32 機械手
100 裝置
110 晶圓容器
120 嚙合鎖
131 側(cè)壁
141 穹面
142 長條件
161 頂板
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





