[發明專利]晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統

在審

• 申請號: 201710206776.2
• 申請日: 2017-03-31
• 公開（公告）號: CN106932700A
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發明（設計）人: 徐虎;陸一峰;楊彥偉;劉宏亮
• 申請（專利權）人: 深圳市芯思杰智能物聯網技術有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京友聯知識產權代理事務所(普通合伙)11343
• 代理人: 尚志峰,汪海屏

技術領域

本發明涉及光電子器件測試技術領域，具體而言，涉及晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統。

背景技術

晶體管外形封裝的光電子器件的直流性能主要由以下參數表征：暗電流、擊穿電壓、工作電流、兩端口靜態輸出電壓等。在現有技術中，通過以下兩種方式來測試光電子器件的性能，第一種是單只測試，晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統由穩壓直流電源、皮安表、萬用表和單路測試板等組成，測試人員先將待測試的光電子器件插入到單路測試板的插孔內，手動通電，人工記錄數據，測試完成后再將光電子器件從插孔內拔出。這種方法測試效率低、測試強度大、無法滿足大規模生產的需要。第二種是多路測試，晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統中使用了多路測試板，多路測試板上設計了專用的測試焊盤，通過軟件移動機械手臂，機械手臂與測試焊盤的對接從而實現單路通電測試，這種晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統對夾具的制作精度要求高，同時由于采用了機械移動裝置，其系統搭建需要高昂的費用，且日常維護成本高。

因此，如何提高晶體管外形封裝的光電子器件的測試效率和測試準確性，同時避免晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統的成本過高成為亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明正是基于上述問題，提出了一種新的技術方案，可以解決相關技術中的晶體管外形封裝的光電子器件的測試效率低、準確度低和晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統的成本過高的技術問題。

有鑒于此，本發明的第一方面提出了一種晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統，包括：直流電源；多路控制板，其輸入端連接至所述直流電源，所述多路控制板包括多個通道；多路測試板，與所述多路控制板相連，用于裝配待測試的多個晶體管外形封裝的光電子器件，以使每個所述光電子器件與其對應的所述通道相連，多個所述通道依次接通，當任一所述通道接通時，所述直流電源通過接通的所述通道為其對應的所述光電子器件提供電信號；以及性能參數檢測裝置，連接至所述多路控制板和/或所述多路測試板，用于檢測與接通的所述通道對應的所述光電子器件的直流性能參數。

在該技術方案中，將待測試的多個晶體管外形封裝的光電子器件裝配在多路測試板上，每個光電子器件與多路控制板的一通道連接，當任一通道接通時，直流電源為該通道對應的光電子器件提供電信號，從而使性能參數檢測裝置來檢測該光電子器件的直流性能參數。因此，可以依次接通多路控制板的多個通道，以實現多個上述中的光電子器件的依次測試。通過以上技術方案，由于一個多路測試板上可以裝配多個晶體管外形封裝的光電子器件，因此，可以大大提高了晶體管外形封裝的光電子器件的測試效率和測試準確率，滿足了大規模生產的需求。而且避免使用機械手臂參與光電子器件的性能測試，從而避免了晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測試系統的成本過高，降低了光電子器件的生產成本。

在上述技術方案中，優選地，還包括：終端，連接至所述直流電源、所述多路控制板和所述性能參數檢測裝置，所述終端用于控制所述直流電源輸出電信號、控制多個所述通道的依次接通以及讀取和存儲所述性能參數檢測裝置檢測出的直流性能參數。

在該技術方案中，通過終端對直流電源、多路控制板和多路測試板進行控制，減少了用戶參與晶體管外形封裝的光電子器件的直流性能測試的步驟，進一步地提高了晶體管外形封裝的光電子器件性能測試的效率和準確率。另外，通過終端來讀取和存儲檢測出的直流性能參數，避免了人工記錄檢測結果，滿足了晶體管外形封裝的光電子器件大規模測試的需求。

在上述任一技術方案中，優選地，所述多路控制板包括：多個電磁繼電器，與多個所述通道一一對應，所述終端通過控制每個所述電磁繼電器的開關來控制與其對應的所述通道的接通和關閉。

在該技術方案中，每個通道對應一個電磁繼電器，以通過電磁繼電器來控制對應通道的接通和關閉，從而實現多路測試板上的多個晶體管外形封裝的光電子器件的依次測試。

在上述任一技術方案中，優選地，所述性能參數檢測裝置包括以下之一或多種的組合：電流表、皮安表、萬用表，所述皮安表用于讀取與接通的所述通道對應的所述光電子器件的暗電流，所述電流表用于讀取與接通的所述通道對應的所述光電子器件的工作電流，所述萬用表用于讀取與接通的所述通道對應的所述光電子器件的靜態輸出電壓。

在該技術方案中，通過皮安表讀取光電子器件的暗電流，電流表讀取光電子器件的工作電流，萬用表讀取光電子器件的靜態輸出電壓，從而實現光電子器件的性能測試。

在上述任一技術方案中，優選地，所述皮安表的精度為皮安級。