[發明專利]顯示裝置、檢測單元以及檢測方法

在審

• 申請號: 201710203987.0
• 申請日: 2017-03-30
• 公開（公告）號: CN106803411A
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發明（設計）人: 張九占
• 申請（專利權）人: 昆山工研院新型平板顯示技術中心有限公司;昆山國顯光電有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙)31237
• 代理人: 智云

技術領域

本發明涉及檢測技術領域，特別是涉及一種顯示裝置、檢測單元以及檢測方法。

背景技術

OLED(Organic Light-Emitting Diode，有機發光二極管)顯示裝置以其具有的重量輕、體積小、厚度薄等特點，已廣泛地應用在各種尺寸的終端顯示設備中，近幾年，隨著科學技術的發展，出現了一種將OLED顯示裝置的柵極驅動器通過掩模板鍍膜技術直接制作在玻璃基板上的新型技術—GIP(Gate in Panel，面內柵極)技術。目前，GIP技術是把掃描芯片集成在OLED面板上的技術，可以達到節省掃描芯片，降低材料成本、減少工藝數量并縮短工藝時間，從而降低液晶面板成本、實現更窄邊框的目的。

現有技術中，OLED顯示裝置封裝前，在進行陣列測試(ARRAY Test)檢測時，無法對于GIP電路進行檢測，例如一種檢測方法是：將GIP電路的第一級輸出端及最后一級輸出端的信號通過引線引致FPC(柔性電路板)端，然后通過測量第一級輸出端及最后一級輸出端的信號進行相應的判斷分析。然而此種檢測方法除了需要增加引線外，對于GIP電路中間部分則無法檢測，舉例來說，在某些情況下，當GIP電路第一級輸出端的信號正常，但最后一級輸出端的信號不正常時，這種檢測方法則無法進行相應的分析。

此外，OLED顯示裝置封裝后，在進行不良解析時，對于GIP電路部分，一般用顯微鏡進行逐級觀察，效率較低。

發明內容

本發明提供一種顯示裝置、檢測單元以及檢測方法，可以快速地對GIP電路的每一級進行檢測。

所述顯示裝置包括：至少一GIP電路、像素驅動電路以及設置在所述GIP電路和像素驅動電路之間的至少一檢測單元，所述GIP電路包括N級輸出端，所述像素驅動電路包括至少一個驅動邊，每個所述驅動邊包括N個掃描線，所述檢測單元包括N個檢測子單元，第n個所述檢測子單元的一端連接一個所述GIP電路的第n級輸出端，第n個所述檢測子單元的另一端連接一個所述驅動邊的第n個掃描線，其中N為大于等于2的整數，n取值為1至N的整數；

第n個所述檢測子單元包括信號連接層以及位于所述信號連接層一側的檢測電極，所述信號連接層分別連接所述GIP電路的第n級輸出端以及對應的所述驅動邊的第n個掃描線，所述檢測電極與信號連接層電導通。

進一步的，在所述顯示裝置中，所述信號連接層和檢測電極設置有平坦化層，所述平坦化層中設置有至少一過孔，所述檢測電極與信號連接層通過所述過孔電導通。

進一步的，在所述顯示裝置中，所述信號連接層包括依次層疊的第一信號層、介質層以及第二信號層，所述第二信號層面向所述檢測電極設置，所述介質層中設置有至少一開口，所述第一信號層和第二信號層通過所述開口電導通。

進一步的，在所述顯示裝置中，所述第一信號層的一端與所述GIP電路的第n級的輸出端相連，所述第一信號層的另一端與對應的所述驅動邊的第n個掃描線相連。

進一步的，在所述顯示裝置中，所述第一信號層與對應的所述掃描線位于不同層，第n個所述檢測子單元與對應的所述掃描線之間還設置有一個走線單元，所述走線單元包括依次層疊的第一信號連接層、絕緣層以及第二信號連接層，所述絕緣層中設置有至少一走線開口，所述第一信號連接層和第二信號連接層通過所述走線開口電導通，所述第二信號連接層與所述第一信號層位于同一層且與所述第一信號層相連，所述第一信號連接層與對應的所述掃描線位于同一層且與對應的所述掃描線相連。

進一步的，在所述顯示裝置中，所述像素驅動電路包括兩個驅動邊，兩個所述驅動邊分別位于所述像素驅動電路相對的兩面，所述顯示裝置包括兩個所述GIP電路，兩個所述GIP電路分別連接兩個所述驅動邊。

進一步的，在所述顯示裝置中，還包括介電層和蓋板，所述介電層和蓋板依次覆蓋于所述檢測電極背離所述信號連接層的一側。

進一步的，在所述顯示裝置中，所述介電層和蓋板還依次覆蓋于所述GIP電路和像素驅動電路上。

進一步的，在所述顯示裝置中，所述像素驅動電路包括兩個驅動邊，兩個所述驅動邊分別位于所述像素驅動電路相對的兩面，所述顯示裝置包括兩個所述GIP電路，兩個所述GIP電路分別連接兩個所述驅動邊。

根據本發明的另一面，還提供一種如上任意一項所述的顯示裝置中的檢測單元。

根據本發明的又一面，還提供一種檢測方法，包括：

提供如上任意一項所述的顯示裝置；