[發(fā)明專利]顯示裝置、檢測(cè)單元以及檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710203987.0
• 申請(qǐng)日: 2017-03-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106803411A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-06-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張九占
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆山工研院新型平板顯示技術(shù)中心有限公司;昆山國(guó)顯光電有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31237
• 代理人: 智云

1.一種顯示裝置，其特征在于，包括：至少一GIP電路、像素驅(qū)動(dòng)電路以及設(shè)置在所述GIP電路和像素驅(qū)動(dòng)電路之間的至少一檢測(cè)單元，所述GIP電路包括N級(jí)輸出端，所述像素驅(qū)動(dòng)電路包括至少一個(gè)驅(qū)動(dòng)邊，每個(gè)所述驅(qū)動(dòng)邊包括N個(gè)掃描線，所述檢測(cè)單元包括N個(gè)檢測(cè)子單元，第n個(gè)所述檢測(cè)子單元的一端連接一個(gè)所述GIP電路的第n級(jí)輸出端，第n個(gè)所述檢測(cè)子單元的另一端連接一個(gè)所述驅(qū)動(dòng)邊的第n個(gè)掃描線，其中N為大于等于2的整數(shù)，n取值為1至N的整數(shù)；

第n個(gè)所述檢測(cè)子單元包括信號(hào)連接層以及位于所述信號(hào)連接層一側(cè)的檢測(cè)電極，所述信號(hào)連接層分別連接所述GIP電路的第n級(jí)輸出端以及對(duì)應(yīng)的所述驅(qū)動(dòng)邊的第n個(gè)掃描線，所述檢測(cè)電極與信號(hào)連接層電導(dǎo)通。

2.如權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述信號(hào)連接層和檢測(cè)電極設(shè)置有平坦化層，所述平坦化層中設(shè)置有至少一過(guò)孔，所述檢測(cè)電極與信號(hào)連接層通過(guò)所述過(guò)孔電導(dǎo)通。

3.如權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述信號(hào)連接層包括依次層疊的第一信號(hào)層、介質(zhì)層以及第二信號(hào)層，所述第二信號(hào)層面向所述檢測(cè)電極設(shè)置，所述介質(zhì)層中設(shè)置有至少一開(kāi)口，所述第一信號(hào)層和第二信號(hào)層通過(guò)所述開(kāi)口電導(dǎo)通。

4.如權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，所述第一信號(hào)層的一端與所述GIP電路的第n級(jí)的輸出端相連，所述第一信號(hào)層的另一端與對(duì)應(yīng)的所述驅(qū)動(dòng)邊的第n個(gè)掃描線相連。

5.如權(quán)利要求4所述的顯示裝置，其特征在于，所述第一信號(hào)層與對(duì)應(yīng)的所述掃描線位于不同層，第n個(gè)所述檢測(cè)子單元與對(duì)應(yīng)的所述掃描線之間還設(shè)置有一個(gè)走線單元，所述走線單元包括依次層疊的第一信號(hào)連接層、絕緣層以及第二信號(hào)連接層，所述絕緣層中設(shè)置有至少一走線開(kāi)口，所述第一信號(hào)連接層和第二信號(hào)連接層通過(guò)所述走線開(kāi)口電導(dǎo)通，所述第二信號(hào)連接層與所述第一信號(hào)層位于同一層且與所述第一信號(hào)層相連，所述第一信號(hào)連接層與對(duì)應(yīng)的所述掃描線位于同一層且與對(duì)應(yīng)的所述掃描線相連。

6.如權(quán)利要求1-5中任意一項(xiàng)所述的顯示裝置，其特征在于，所述像素驅(qū)動(dòng)電路包括兩個(gè)驅(qū)動(dòng)邊，兩個(gè)所述驅(qū)動(dòng)邊分別位于所述像素驅(qū)動(dòng)電路相對(duì)的兩面，所述顯示裝置包括兩個(gè)所述GIP電路，兩個(gè)所述GIP電路分別連接兩個(gè)所述驅(qū)動(dòng)邊。

7.如權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，還包括介電層和蓋板，所述介電層和蓋板依次覆蓋于所述檢測(cè)電極背離所述信號(hào)連接層的一側(cè)。

8.如權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，所述介電層和蓋板還依次覆蓋于所述GIP電路和像素驅(qū)動(dòng)電路上。

9.一種如權(quán)利要求1-8中任意一項(xiàng)所述的顯示裝置中的檢測(cè)單元。

10.一種檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

提供如權(quán)利要求1-6中任意一項(xiàng)所述的顯示裝置；

采用一陣列測(cè)試設(shè)備驅(qū)動(dòng)所述GIP電路，使用一第一測(cè)試探針接觸所述檢測(cè)電極，如果所述第一測(cè)試探針的測(cè)試結(jié)果滿足一設(shè)定要求，則對(duì)所述顯示裝置進(jìn)行封裝；如果所述第一測(cè)試探針的測(cè)試結(jié)果不滿足所述設(shè)定要求，則不對(duì)所述顯示裝置進(jìn)行封裝；

對(duì)所述顯示裝置進(jìn)行封裝后，所述檢測(cè)電極背離所述信號(hào)連接層的一側(cè)依次覆蓋一介電層和一蓋板，采用所述陣列測(cè)試設(shè)備驅(qū)動(dòng)所述GIP電路，使用一第二測(cè)試探針接觸所述檢測(cè)電極所對(duì)應(yīng)的部分所述蓋板，以對(duì)封裝后的所述顯示裝置進(jìn)行檢測(cè)。