[發明專利]試劑更換控制方法、裝置和分析儀器

有效

• 申請號: 201710200367.1
• 申請日: 2017-03-30
• 公開（公告）號: CN106950387B
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發明（設計）人: 陳建林
• 申請（專利權）人: 邁克醫療電子有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N35/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種試劑更換控制方法、裝置和分析儀器。該方法可以包括：在樣本處理周期內，計算未被試劑臂占用的第一試劑盤空閑時間；比較試劑盒的更換時間與第一試劑盤空閑時間；當試劑盒的更換時間小于第一試劑盤空閑時間時，在第一試劑盤空閑時間內更換試劑盒。本發明公開的試劑更換控制方法，能夠在不降低分析儀器的檢測通量的同時對試劑進行更換。

技術領域

本發明屬于檢測技術領域，尤其涉及一種試劑更換控制方法、裝置和分析儀器。

背景技術

分析儀器上使用的試劑盒是一種耗材，試劑盒里是各種試劑，其使用次數是有限的。試劑盒放置在儀器的試劑倉中，試劑倉有多個位置，試劑倉一般是一種圓形且可正向/反向旋轉的裝置，可將試劑倉上的任何一個位置轉動到試劑臂取試劑的位置上。

更換試劑有以下兩種方式：一種是分析儀器在待機情況下更換。分析儀器待機時，人工直接打開試劑倉蓋，然后取出和放入試劑盒，再關閉試劑倉管，最后分析儀器自動執行試劑掃描，讀取試劑信息并更新到軟件中顯示等處理。另一種是在線加載/卸載試劑。儀器工作時，用戶需要更換試劑時直接在分析儀器上進行操作，極易增加試劑臂的等待時間，對分析儀器正常工作造成影響。

通常分析儀器的性能指標之一為儀器的檢測通量，檢測通量一般表示在單位時間內能夠完成測試的樣本的數量。如果在檢測過程中，需要增加額外的時間來更換試劑盒，則會降低儀器的檢測通量。如果要保持通量不變，只有增加分析儀器的運動速度，但又提高了調度分析儀器的復雜度。

綜上，現有技術中存在的技術問題：試劑更換過程帶來了不可避免的檢測通量降低。

發明內容

本發明實施例提供了一種試劑更換控制方法、裝置和分析儀器，能夠在不降低分析儀器的檢測通量的同時對試劑進行更換。

第一方面，提供了一種試劑更換控制方法，包括：在樣本處理周期內，計算未被試劑臂占用的第一試劑盤空閑時間；比較試劑盒的更換時間與第一試劑盤空閑時間；當試劑盒的更換時間小于第一試劑盤空閑時間時，在第一試劑盤空閑時間內更換試劑盒。

第二方面，提供了一種試劑更換控制裝置，包括：計算單元、比較單元和控制單元。該計算單元用于在樣本處理周期內，計算未被試劑臂占用的第一試劑盤空閑時間。該比較單元用于比較試劑盒的更換時間與第一試劑盤空閑時間。該控制單元用于當試劑盒的更換時間小于第一試劑盤空閑時間時，在第一試劑盤空閑時間內更換試劑盒。

在第一種可能的實現方式中，上述比較單元還可以用于：

確定試劑盒卸載所需要的卸載時間以及試劑盒加載所需要的加載時間；將卸載時間與加載時間之和作為更換時間，并將更換時間與第一試劑盤空閑時間進行比較；或將加載時間作為更換時間，并將更換時間與第一試劑盤空閑時間進行比較。

結合上述可能的實現方式，在第二種可能的實現方式中，上述控制單元還可以用于：

當更換時間大于或等于第一試劑盤空閑時間時，比較卸載時間與第一試劑盤空閑時間；當卸載時間小于第一試劑盤空閑時間時，在第一試劑盤空閑時間內執行試劑盒卸載；計算第二試劑盤空閑時間，當加載時間小于第二試劑盤空閑時間時，在第二試劑盤空閑時間內執行試劑盒加載。

其中：

當第一試劑盤空閑時間為第n樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間時，第二試劑盤空閑時間是：

第n+m樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間、第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間或第n+m樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間與第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間之和。或，

當第一試劑盤空閑時間為第n樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間時，第二試劑盤空閑時間是：