[發明專利]試劑更換控制方法、裝置和分析儀器

有效

• 申請號: 201710200367.1
• 申請日: 2017-03-30
• 公開（公告）號: CN106950387B
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發明（設計）人: 陳建林
• 申請（專利權）人: 邁克醫療電子有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N35/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種試劑更換控制方法，其特征在于，包括：

在樣本處理周期內，計算未被試劑臂占用的第一試劑盤空閑時間；

確定試劑盒卸載所需要的卸載時間以及試劑盒加載所需要的加載時間；

將所述卸載時間與所述加載時間之和作為所述更換時間，并將所述更換時間與所述第一試劑盤空閑時間進行比較；

當所述試劑盒的更換時間小于所述第一試劑盤空閑時間時，在所述第一試劑盤空閑時間內更換試劑盒；

當所述更換時間大于或等于所述第一試劑盤空閑時間時，比較所述卸載時間與所述第一試劑盤空閑時間；

當所述卸載時間小于所述第一試劑盤空閑時間時，在所述第一試劑盤空閑時間內執行試劑盒卸載；

計算第二試劑盤空閑時間，當所述加載時間小于所述第二試劑盤空閑時間時，在所述第二試劑盤空閑時間內執行試劑盒加載。

2.根據權利要求1所述的試劑更換控制方法，其特征在于，所述第一試劑盤空閑時間是：第n樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間或第n樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間，其中，n為大于零的整數。

3.根據權利要求1所述的試劑更換控制方法，其特征在于，所述第一試劑盤空閑時間是：第n樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間與第n+1樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間之和，其中，n為大于零的整數。

4.根據權利要求1所述的試劑更換控制方法，其特征在于，當所述第一試劑盤空閑時間為第n樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間時，所述第二試劑盤空閑時間是：

第n+m樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間、第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間或第n+m樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間與第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間之和；或，

當所述第一試劑盤空閑時間為第n樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間時，所述第二試劑盤空閑時間是：

第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間、第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間或第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間與第n+m+2樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間之和；或，

當所述第一試劑盤空閑時間為第n樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間和第n+1樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間之和時，所述第二試劑盤空閑時間是：

第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間、第n+m+2樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間或第n+m+1樣本處理周期內試劑臂取試劑后的試劑盤空閑時間與第n+m+2樣本處理周期內試劑臂取試劑前的試劑盤空閑時間之和，

n為大于零的整數，m為大于或等于零的整數。

5.根據權利要求1所述的試劑更換控制方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述加載時間大于或等于所述第二試劑盤空閑時間時，確定試劑盒裝載入倉所需要的裝載入倉時間以及試劑盒信息掃描所需要的信息掃描時間；

將所述裝載入倉時間與所述信息掃描時間之和作為所述加載時間，并將所述加載時間與所述第二試劑盤空閑時間進行比較；或

將所述裝載入倉時間作為所述加載時間，并將所述加載時間與所述第二試劑盤空閑時間進行比較。