[發明專利]開槽零件尺寸測量方法有效
| 申請號: | 201710191728.0 | 申請日: | 2017-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN106840006B | 公開(公告)日: | 2023-07-21 |
| 發明(設計)人: | 劉紅;王超;姚江偉;張云江;付勝楠;劉海梅;曹昆武 | 申請(專利權)人: | 核工業理化工程研究院 |
| 主分類號: | G01B11/08 | 分類號: | G01B11/08 |
| 代理公司: | 北京潤捷智誠知識產權代理事務所(普通合伙) 11831 | 代理人: | 安利霞 |
| 地址: | 300180 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 開槽 零件 尺寸 測量方法 | ||
1.一種開槽零件尺寸的測量方法,其特征在于:包括以下步驟:
a)調整零位
將測量具組件(1)固定在測長儀兩端測量桿(5)上,使兩個測量部(32)的薄片面水平放置,鎖緊緊固螺釘(4),當被測零件(8)尺寸小于100mm時,調整使測長儀使兩個測頭(3)的測量面平行并接觸,調整儀器讀數為零,當零件的尺寸大于100mm,用一個小于零件尺寸,且是整數的四等量塊,調整儀器的零位,直至儀器毫米讀數為零,毫米以下讀數為量塊的偏差,即調整好儀器的零位,將測長儀活動端移開,兩測頭之間距離大于零件的最大直徑10mm以上;
b)?放置零件
首先將被測零件(8)平放在測長儀工作臺(6)上,使被測零件(8)底面與測長儀工作臺(6)接觸,被測零件(8)在測長儀工作臺(6)上的左右位置要保證兩端的測頭(3)能夠接觸到被測面,在工作臺上放置一個薄型V型定位塊(7)固定被測零件(8);
c)?調整儀器
粗調測長儀工作臺(6)上下位置,并移動被測零件(8)使其中心通過兩個測頭中心線位置,并使測頭(3)的測量部(32)的薄片狀部分進入A截面開槽部位;先粗調平臺前后和測長儀工作臺(6)左右擺動角度,然后微調測長儀工作臺(6)平臺前后位置,在鏡頭中找到最大值,最后微調工作臺左右擺動角度,找到最小值,此時鏡頭中讀數值,加上量塊數值即為開槽直徑測量值;
d)?移開測長儀測量桿(5)活動一端,保持V型定位塊(7)不動,徑向轉動被測零件(8)45度,至第b位置,重復b)和c)步驟;
按上述方法,分別出測量c和d位置直徑尺寸;
e)完成A截面尺寸測量之后,移開測長儀活動一端,并將被測零件(8)移出,升高儀器工作臺,至B截面開槽位置,重復b)、c)及d)步驟,按上述方法,分別測量出a至d位置直徑尺寸;
所述方法采用的開槽零件尺寸測量用具,包括均通過緊固螺釘(4)安裝于測長儀的測量桿(5)上的一對測量具組件(1),所述測量具組件(1)包括過盈連接的測帽(2)和測頭(3);所述測頭(3)由階梯軸狀連接部(31)和由連接部(31)大徑段端面對稱中心線圓弧過渡成薄片形狀的測量部(32)組成;測量部(32)的薄片面水平放置;被測零件(8)的中心通過兩個測頭中心線位置;還包括用于固定被測零件(8)的薄型V型定位塊(7)。
2.根據權利要求1所述的開槽零件尺寸的測量方法,其特征在于:所述測帽(2)為中間形成階梯孔(21)的圓柱形結構,階梯孔(21)大孔端端面形成圓臺(22),大孔端中段外壁一側形成凸起(23),另一側形成半圓型凸弧(24),凸起(23)上形成沿徑向設置的螺孔(25)。
3.根據權利要求2所述的開槽零件尺寸的測量方法,其特征在于:所述凸起(23)的上端面為圓弧面,兩側面為相互對稱的兩個平面,且兩側面均與上端面所在圓相交,與測帽(2)外壁所在圓相切。
4.根據權利要求2所述的開槽零件尺寸的測量方法,其特征在于:所述階梯孔(21)的大孔端內徑與測量桿(5)外徑小間隙配合。
5.根據權利要求1所述的開槽零件尺寸的測量方法,其特征在于:所述測量部(32)的薄片處的厚度為小于被測開槽尺寸的寬度,薄片處的長度大于開槽尺寸的深度。
6.根據權利要求1所述的開槽零件尺寸的測量方法,其特征在于:所述連接部(31)小徑段外徑與階梯孔(21)小孔端內徑過盈配合。
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