[發明專利]調校探針位置的測試板及測試方法在審
| 申請號： | 201710188413.0 | 申請日： | 2017-03-27 |
| 公開（公告）號： | CN108663648A | 公開（公告）日： | 2018-10-16 |
| 發明（設計）人： | 劉宇青;楊煒達;侯曉峰;梁國棟 | 申請（專利權）人： | 富泰華工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人： | 習冬梅 |
| 地址： | 518109 廣東省深圳市寶安區觀瀾街道大三社*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試區 絕緣區 調校 探針位置 測試點 測試板 測試 測試探針 導電功能 電阻 探針 包圍 | ||
一種調校探針位置的測試板，包括至少一用于測試探針的測試點，該測試點包括多個具有導電功能的測試區，每一測試區與不同阻值的電阻相連接，該多個測試區包括第一測試區及多個第二測試區，該多個第二測試區圍繞該第一測試區設置而包圍該第一測試區，該測試點還包括第一絕緣區及多個第二絕緣區，該第一測試區通過該第一絕緣區與該多個第二測試區相間隔開，該多個第二測試區中每兩個第二測試區通過一第二絕緣區相間隔開。本發明還涉及一種調校探針位置的測試方法。本發明實現簡單，能夠有效提高探針調校的效率。
技術領域
本發明涉及ICT(In Circuit Test,電路在線測試)領域，尤其涉及一種調校ICT治具探針位置的測試板及測試方法。
背景技術
現有技術中，當ICT測試治具上的探針偏位時，技術人員很難把握探針的偏離方向及偏離距離，因而造成相關的技術人員花費大量的時間來調校探針的位置，降低了探針調校的效率。
發明內容
鑒于以上內容，有必要提供一種調校探針位置的測試板及測試方法以解決調校探針效率低下的問題。
一種調校探針位置的測試板，包括至少一用于測試探針的測試點，該測試點包括多個具有導電功能的測試區，每一測試區與不同阻值的電阻相連接，該多個測試區包括第一測試區及多個第二測試區，該多個第二測試區圍繞該第一測試區設置而包圍該第一測試區，該測試點還包括第一絕緣區及多個第二絕緣區，該第一測試區通過該第一絕緣區與該多個第二測試區相間隔開，該多個第二測試區中每兩個第二測試區通過一第二絕緣區相間隔開。
一種利用上述測試板的調校探針位置的測試方法，用于對一待測治具的探針的位置進行調校，該方法包括步驟：
提供一電阻測試設備，該電阻測試設備存儲有一對應關系表，該對應關系表中定義有多個不同落點位置與不同阻值的對應關系；
將該電阻測試設備的負極連接端接地及將正極連接端與該待測治具的探針連接；
將該探針放置到該測試板的測試點上進行測試；
獲取該電阻測試設備檢測出的電阻值；
根據獲取的電阻值及存儲的對應關系表確定該探針在該測試點中的落點位置；
根據確定出的落點位置對該探針進行調校。
本發明通過檢測與測試區相連接的電阻的阻值而確定探針落入測試區的落點位置，并根據探針在測試點中的落點位置對測試治具的探針的位置進行調校。本發明實現簡單，能夠有效提高探針調校的效率。
附圖說明
圖1為本發明一實施方式中調校探針位置的測試板的示意圖。
圖2為圖1所述測試板中測試點的示意圖。
圖3為本發明一實施方式中調校探針位置的測試方法的流程圖。
圖4為本發明一實施方式中調校探針位置的測試方法的應用環境圖。
圖5為本發明一實施方式中對應關系表的示意圖。
主要元件符號說明
如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。
具體實施方式
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