[發明專利]調校探針位置的測試板及測試方法

在審

• 申請號: 201710188413.0
• 申請日: 2017-03-27
• 公開（公告）號: CN108663648A
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發明（設計）人: 劉宇青;楊煒達;侯曉峰;梁國棟
• 申請（專利權）人: 富泰華工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 習冬梅

1.一種調校探針位置的測試板，包括至少一用于測試探針的測試點，其特征在于，該測試點包括多個具有導電功能的測試區，每一測試區與不同阻值的電阻相連接，該多個測試區包括第一測試區及多個第二測試區，該多個第二測試區圍繞該第一測試區設置而包圍該第一測試區，該測試點還包括第一絕緣區及多個第二絕緣區，該第一測試區通過該第一絕緣區與該多個第二測試區相間隔開，該多個第二測試區中每兩個第二測試區通過一個第二絕緣區相間隔開。

2.如權利要求1所述的調校探針位置的測試板，其特征在于，該第一測試區為圓形，該多個第二測試區中每一第二測試區為扇形，該多個第二測試區等間隔地設置在該第一測試區周圍而將該第一測試區包圍。

3.如權利要求2所述的調校探針位置的測試板，其特征在于，該第一絕緣區為環形結構，該第二絕緣區為條形結構。

4.如權利要求3所述的調校探針位置的測試板，其特征在于，該第一測試區的第一直徑及該每一第二測試區的第二直徑均大于該探針的直徑，且該第一測試區與該每一第二測試區之間的第一間距及該兩個第二絕緣區之間的第二間距均小于該探針的直徑。

5.如權利要求4所述的調校探針位置的測試板，其特征在于，該第一測試區的第一直徑為0.28mm。

6.如權利要求4所述的調校探針位置的測試板，其特征在于，該每一第二測試區的第二直徑為0.5mm。

7.如權利要求4所述的調校探針位置的測試板，其特征在于，該第一間距及該第二間距均為0.07mm。

8.一種利用權利要求1所述的調校探針位置的測試板的調校探針位置的測試方法，用于對一待測治具的探針的位置進行調校，其特征在于，該方法包括步驟：

提供一電阻測試設備，該電阻測試設備存儲有一對應關系表，該對應關系表中定義有多個不同落點位置與不同阻值的對應關系；

將該電阻測試設備的負極連接端接地及將正極連接端與該待測治具的探針連接；

將該探針放置到該測試板的測試點上進行測試；

獲取該電阻測試設備檢測出的電阻值；

根據獲取的電阻值及存儲的對應關系表確定該探針在該測試點中的落點位置；及

根據確定出的落點位置對該探針進行調校。

9.如權利要求8所述的調校探針位置的測試方法，其特征在于，該方法在步驟“根據確定出的落點位置對該探針進行調校”中還包括：

判斷該探針的落點位置是否位于第一測試區；

在確定該探針的落點位置處于第一測試區時則不對該探針的位置進行調整；及

在確定該探針的落點位置不處于第一測試區時，則對該探針的位置進行調整。

10.如權利要求9所述的調校探針位置的測試方法，其特征在于，該對應關系表中還定義有多個不同落點位置與不同調校指示的對應關系，該方法在步驟“在確定該探針的落點位置不處于第一測試區時，則對該探針的位置進行調整”后還包括步驟：

根據確定出的落點位置及該對應關系表確定與該落點位置對應的調校指示并將該調校指示在電阻測試設備上進行顯示以使用戶根據該調校指示對探針進行調校。

11.如權利要求10所述的調校探針位置的測試方法，其特征在于，該調校指示包括對該探針進行移動的方向信息及距離信息。