[發明專利]一種電路板全過程測試覆蓋率分析方法

在審

• 申請號: 201710174457.8
• 申請日: 2017-03-22
• 公開（公告）號: CN108627755A
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: 高峰;陳志漫;耶小方;謝明明;武松劍;張宏偉
• 申請（專利權）人: 株洲中車時代電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F11/36
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 任重;馮振寧

本發明公開了一種電路板全過程測試覆蓋率分析方法，包括以下步驟：將目標電路板的所有元器件的屬性和加工屬性進行歸類，得到電路板全過程的評價屬性；使用不同的測試方法對每種屬性進行檢測，得到不同測試方法對每種屬性的檢出度，進而得出全過程測試對每種屬性的檢出度以得到全過程測試覆蓋率。本發明將傳統的單一方式的測試覆蓋率統計分析過程變為了生產過程中所有的檢測過程，并基于不同檢測方式的測試覆蓋率評估方法轉換為同一維度的評價方法，能夠綜合利用多種測試方法的測試結果，使得測試覆蓋率的準確率大大提高，有效減少了重復計算以及漏算的情況。

技術領域

本發明軟件測試技術領域，更具體地，涉及一種電路板全過程測試覆蓋率分析方法。

背景技術

目前鐵路機車產品的設計越來越復雜，產品功能也越來越多，傳統的基于單一工序的測試覆蓋率分析方法已經不能滿足要求。電路板的功能越來越多，傳統的單一測試方法已經不能滿足要求，需要將多種測試方法綜合應用方能滿足要求，但是每種測試方法對測試覆蓋率的分析和計算均不一樣，因此在計算電路板測試覆蓋率時存在重復計算或遺漏的情況。

發明內容

本發明為克服上述現有技術所述的至少一種缺陷，提供能有效避免重復計算或遺漏情況，提高測試覆蓋率計算準確率的電路板全過程測試覆蓋率分析方法。

提供一種電路板全過程測試覆蓋率分析方法，包括以下步驟：將目標電路板的所有元器件的屬性和加工屬性進行歸類，得到電路板全過程的評價屬性；使用不同的測試方法對每種屬性進行檢測，得到不同測試方法對每種屬性的檢出度，進而得出全過程測試對每種屬性的檢出度以得到全過程測試覆蓋率。

進一步地，具體步驟為：

S1.根據目標電路板實際情況，選擇測試方法對電路板進行測試；

S2.導入由不同測試方法得到的單步測試覆蓋率報告；

S3.制定轉換規則，通過對所有元器件的屬性和加工屬性進行分類，得到評價屬性；根據不同的測試方法調用轉換規則；

S4.對不同評價屬性設定檢出度參數；對所述步驟S3得到的每種測試方法下的每個評價屬性的檢出度，調用檢出度參數；

S5.產生全過程測試覆蓋率測試報告。

本發明通過分析不同測試方法的測試覆蓋率計算方式與全過程測試覆蓋率計算方式，改變了傳統的單一測試方法，通過設置評價屬性將不同測試方法測試的測試覆蓋率重新計算以得出全過程測試覆蓋率。

進一步地，在步驟S2與步驟S3之間設有步驟：對由不同的測試方法得到的單步測試覆蓋率報告進行檢測，判斷是否符合格式；若符合則進行下一步驟，否則，提示錯誤并返回到上一步驟。

進一步地，所述步驟S1中，所述測試方法包括飛針測試、ICT測試、邊界掃描測試、自動線纜測試、功能測試報告、AOI測試、AXI測試。

進一步地，所述步驟S3中，所述轉換規則為將不同測試方法的測試覆蓋率轉換到同一的評價維度。

進一步地，在所述轉換規則中，將電路板全過程分為六個評價屬性，分別為開路、短路、位置、極性、功能和性能。

進一步地，所述步驟S4中，分別將檢出度參數賦值給全過程測試覆蓋率評價屬性的參數。

相較于現有技術，本發明的有益效果為：

本發明為了避免重復計算或遺漏情況的發生，采用了全過程測試覆蓋率的分析方法，具體地，將電路板所有的元器件的屬性和加工屬性進行歸類和分類，總結測試內容為開路、短路、位置、極性、功能和性能，共計6個評價屬性；通過分析和統計歷史數據，得出不同的測試方法對每種屬性的檢出度，從而得出全過程測試對每種屬性的檢出度。