[發明專利]一種電路板全過程測試覆蓋率分析方法

在審

• 申請號: 201710174457.8
• 申請日: 2017-03-22
• 公開（公告）號: CN108627755A
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: 高峰;陳志漫;耶小方;謝明明;武松劍;張宏偉
• 申請（專利權）人: 株洲中車時代電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F11/36
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 任重;馮振寧

1.一種電路板全過程測試覆蓋率分析方法，其特征在于，包括以下步驟：將目標電路板的所有元器件的屬性和加工屬性進行歸類，得到電路板全過程的評價屬性；使用不同的測試方法對每種評價屬性進行檢測，得到不同測試方法對每種評價屬性的檢出度，進而得出全過程測試對每種評價屬性的檢出度以得到全過程測試覆蓋率。

2.根據權利要求1所述的電路板全過程測試覆蓋率分析方法，其特征在于，具體包括以下步驟：

S1.根據目標電路板實際情況，選擇測試方法對電路板進行測試；

S2.導入由不同測試方法得到的單步測試覆蓋率報告；

S3.制定轉換規則，通過對所有元器件的屬性和加工屬性進行分類，得到評價屬性；根據不同的測試方法調用轉換規則；

S4.對不同評價屬性設定檢出度參數；對所述步驟S3得到的每種測試方法下的每個評價屬性的檢出度，調用檢出度參數；

S5.產生全過程測試覆蓋率測試報告。

3.根據權利要求2所述的電路板全過程測試覆蓋率分析方法，其特征在于，在所述步驟S2與所述步驟S3之間設有步驟：對由不同的測試方法得到的單步測試覆蓋率報告進行檢測，判斷是否符合格式；若符合則進行下一步驟，否則，提示錯誤并返回到上一步驟。

4.根據權利要求2所述的電路板全過程測試覆蓋率分析方法，其特征在于，所述步驟S1中，所述測試方法包括飛針測試、ICT測試、邊界掃描測試、自動線纜測試、功能測試報告、AOI測試、AXI測試。

5.根據權利要求2所述的電路板全過程測試覆蓋率分析方法，其特征在于，所述步驟S3中，所述轉換規則為將不同測試方法的測試覆蓋率轉換到同一的評價維度。

6.根據權利要求5所述的電路板全過程測試覆蓋率分析方法，其特征在于，在所述轉換規則中，將電路板全過程分為六個評價屬性，分別為開路、短路、位置、極性、功能和性能。

7.根據權利要求5所述的電路板全過程測試覆蓋率分析方法，其特征在于，所述步驟S4中，分別將檢出度參數賦值給全過程測試覆蓋率評價屬性的參數。