[發明專利]半導體裝置有效
| 申請號: | 201710171555.6 | 申請日: | 2017-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN107229543B | 公開(公告)日: | 2022-04-22 |
| 發明(設計)人: | 鈴木慎一 | 申請(專利權)人: | 瑞薩電子株式會社 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22;G04D7/00 |
| 代理公司: | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 歐陽帆 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 | ||
本發明涉及半導體裝置。半導體裝置包括包含第一計數器的第一計時器、包含第二計數器的第二計時器以及包含CPU的控制器以提供用于有效地診斷半導體裝置(諸如,微控制器等)中內置的計時器的故障的技術。第一計時器執行與布置在半導體裝置外部的外部設備的時間的時間同步。控制器將第一計數器的計數值與第二計數器的計數值進行比較以及基于比較結果檢測第二計時器的故障。
相關申請的交叉引用
包括說明書、附圖和摘要的2016年3月23日提交的日本專利申請No.2016-058614的公開的全部內容通過引用并入本文中。
技術領域
本公開涉及半導體裝置,以及適用于例如其中內置了計時器的類型的半導體裝置。
背景技術
微控制器被結合進了每件設備中,諸如家用電器、視聽設備、蜂窩電話、汽車、工業機械等。微控制器是一種通過根據存儲在存儲器中的程序執行處理來控制每件設備的操作的半導體裝置。要求包括要被結合進上面提到的(一件或多件)設備中的微控制器的組件依賴于其應用而具有可靠性。因此,除了通過要被控制的診斷傳感器、致動器等來檢測上述的傳感器、致動器等中出現的故障以外,還要求微控制器檢測微控制器自身中出現的故障。
例如,在美國未經審查的專利申請公開No.2013/20978中公開了上面提到的半導體裝置的一個示例。
發明內容
本公開的目的是提供用于有效地診斷半導體裝置中內置的計時器的故障的技術。
本公開的其它主題和新穎特性將通過本說明書的描述和附圖而變得清楚。
如下將對本公開的代表性示例進行簡單描述。
即,根據本公開的一個實施例,提供有一種半導體裝置,該半導體裝置包括:第一計時器,包括第一計數器并且執行與布置在半導體裝置外部的外部設備的時間的時間同步;第二計時器,包括第二計數器;以及控制器,包括CPU,以及將第一計數器的計數值與第二計數器的計數值進行比較并且基于比較結果檢測第二計時器的失靈(和/或故障等)。
根據本公開的一個實施例的半導體裝置,可以有效地診斷內置計時器。
附圖說明
圖1是例示根據本公開的第一實施例的微控制器的一個示例的框視圖。
圖2是例示圖1中所例示的EPTPC的一個示例的框圖。
圖3A是例示時間同步的一個示例的圖。
圖3B是例示EPTPC計數器與MTU計數器之間的關系的一個示例的時序圖。
圖4是例示在診斷計時器的計數器的故障時執行的穩定處理操作的一個示例的流程圖。
圖5A是例示在診斷計時器的計數器的故障時執行的時間匹配事件中斷處理操作的一個示例的流程圖。
圖5B是例示在診斷計時器的計數器的故障時執行的溢出中斷處理操作的一個示例的流程圖。
圖6是例示根據第二實施例的面向功能安全的工業電動機控制系統的一個示例的框圖。
圖7是例示用于多個工業電動機的工業電動機控制系統的配置的一個示例的框圖。
圖8是例示面向功能安全的工業電動機控制系統中的邏輯組成的一個示例的框圖。
圖9是例示在診斷關于計時器生成PWM波形信號的情形的計數器的故障時執行的穩定處理操作的一個示例的流程圖。
圖10A是例示在診斷關于計時器生成PWM波形信號的情形的計數器的故障時執行的PTP命令接收中斷處理操作的一個示例的流程圖。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于瑞薩電子株式會社,未經瑞薩電子株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710171555.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種測試方法及裝置
- 下一篇:緩存的模擬方法及裝置





