[發明專利]低照度CMOS分辨率測試裝置

在審

• 申請號: 201710164069.1
• 申請日: 2017-03-20
• 公開（公告）號: CN107027022A
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發明（設計）人: 邱亞峰;李杰
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 南京理工大學專利中心32203
• 代理人: 朱寶慶

技術領域

本發明涉及一種微光測試技術，特別是一種低照度CMOS分辨率測試裝置。

背景技術

與其他固體微光器件相比，低照度CMOS圖像傳感器具有成本、功耗及體積優勢，是固體微光器件發展的重要方向。低照度CMOS的分辨率是評價低照度CMOS性能的主要參數。

在國內，已經有一些單位開展了低照度CMOS性能參數測試的研究工作，但是還沒有建立低照度CMOS性能參數的標準，也沒有關于低照度CMOS分辨率測試裝置的相關文獻。

發明內容

本發明的目的在于提供一種低照度CMOS分辨率測試裝置，該裝置結構簡單、易于操作，可以方便、快捷地測得低照度CMOS的信噪比值。

一種低照度CMOS分辨率測試裝置，包括物鏡、物鏡組件、平行光管、靶標系統組件、大積分球、兩個光源、兩個光闌調節機構；其中物鏡固定于物鏡組件后端，平行光管后端固定于物鏡組件前端，靶標系統組件設置于平行光管前端和大積分球的輸出端，第一光源與大積分球的第一輸入端連接，第二光源于小積分球的輸入端連接，小積分球輸出端通過光闌調節機構與大積分球的第二輸入端連接。

采用上述裝置，物鏡組件包括物鏡調節夾具、物鏡壓圈、物鏡連接夾具；其中物鏡連接夾具設置通孔，該通孔前端為平行光管通孔且后端為物鏡調節夾具通孔，平行光管一端伸入該平行光管通孔并固定，物鏡調節夾具設置物鏡通孔，物鏡穿過該物鏡通并通過物鏡壓圈固定，物鏡調節夾具設置于物鏡調節夾具通孔內且可在該物鏡調節夾具通孔內伸縮。

采用上述裝置，所述靶標系統組件包括標靶端蓋、靶盤盒、標準靶標；其中標靶端蓋固定于平行光管前端和大積分球輸出端之間，標靶端蓋沿光線入射方向設置通光孔且沿垂直于光線入射方向設置靶盤盒槽，靶盤盒設置于靶盤盒槽內且沿光線入射方向設置通光孔，標準靶標設置于靶盤盒內。

本發明于現有技術相比，具有以下優點：(1)本發明通過靶標顯示在視頻上獲取圖像的分辨率；(2)物鏡組件中的物鏡調節夾具在物鏡調節夾具通孔內滑動驅動物鏡伸縮，便于調節焦距；(3)靶標系統組件包括標靶端蓋、靶盤盒、標準靶標，部件間可拆卸，方便更換靶標。

下面結合說明書附圖對本發明做進一步描述。

附圖說明

圖1為本發明整體結構示意圖，其中圖1(a)為主視圖，圖1(b)為俯視圖。

圖2為本物鏡組件結構示意圖。

圖3為本發明靶標系統組件結構示意圖。

圖4為本發明的靶盤盒結構示意圖，其中圖4(a)為靶盤盒蓋，圖4(b)為靶盤盒體。

具體實施方式

結合圖1，一種低照度CMOS分辨率測試裝置，包括物鏡1、物鏡組件2、平行光管3、平行光管下夾具4、平行光管上夾具5、靶標系統組件6、大積分球7、兩個鹵鎢燈8和15、光闌調節機構16、平行光管夾具底板10、支柱9、滑塊11、大積分球支座12、小積分球支座13和軌道14。物鏡1設置于于物鏡組件2后端且可在物鏡組件2內滑動，平行光管3后端固定于物鏡組件2前端，靶標系統組件6設置于平行光管3前端和大積分球7的輸出端，第一光源與大積分球7的第一輸入端連接，第二光源于小積分球的輸入端連接，小積分球輸出端通過光闌調節機構16與大積分球7的第二輸入端連接。平行光管下夾具4、平行光管上夾具5加緊平行光管3的前后兩端，支柱9兩根分別與平行光管下夾具4、平行光管上夾具5固定連接，平行光管夾具底板10用于固定兩根支柱9，大積分球支座12、小積分球支座13分別與大積分球7和小積分球連接且用于支撐，支柱9、大積分球支座12通過不同的滑塊11設置于軌道14上且可以在軌道4上滑動，軌道14、小積分球支座13設置于工作臺上。

鹵鎢燈8和15用作發光源，光源經過光闌調節機構16控制光通量，大、小積分球可提供均勻的平行光，平行光經過靶標系統組件6再經平行光管照射到低照度CMOS探測面上，低照度CMOS的后端連接計算機進行視頻采集和信號處理得到分辨率。