[發明專利]低照度CMOS分辨率測試裝置

在審

• 申請號: 201710164069.1
• 申請日: 2017-03-20
• 公開（公告）號: CN107027022A
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發明（設計）人: 邱亞峰;李杰
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 南京理工大學專利中心32203
• 代理人: 朱寶慶

1.一種低照度CMOS分辨率測試裝置，其特征在于，包括物鏡(1)、物鏡組件(2)、平行光管(3)、靶標系統組件(6)、大積分球(7)、小積分球、兩個光源、兩個光闌調節機構(16)；其中

物鏡(1)設置于于物鏡組件(2)后端且可在物鏡組件(2)內滑動，

平行光管(3)后端固定于物鏡組件(2)前端，

靶標系統組件(6)設置于平行光管(3)前端和大積分球(7)的輸出端，

第一光源與大積分球(7)的第一輸入端連接，

第二光源于小積分球的輸入端連接，

小積分球輸出端通過光闌調節機構(16)與大積分球(7)的第二輸入端連接。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，物鏡組件(2)包括物鏡調節夾具(2-1)、物鏡壓圈(2-2)、物鏡連接夾具(2-5)；其中

物鏡連接夾具(2-5)設置通孔，該通孔前端為平行光管通孔且后端為物鏡調節夾具通孔，平行光管(3)一端伸入該平行光管通孔并固定，

物鏡調節夾具(2-1)設置物鏡通孔，物鏡(1)穿過該物鏡通并通過物鏡壓圈(2-2)固定，

物鏡調節夾具(2-1)設置于物鏡調節夾具通孔內且可在該物鏡調節夾具通孔內滑動。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，物鏡調節夾具通孔開口處沿周向設置擋圈；物鏡調節夾具(2-1)前端固定帶通孔的物鏡調節夾具壓圈(2-4)；物鏡調節夾具壓圈(2-4)和擋圈配合防止物鏡調節夾具(2-1)滑出物鏡調節夾具通孔。

4.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，物鏡連接夾具(2-5)側壁上設置止定螺釘孔，止定螺釘(2-6)穿過止定螺釘孔固定調整好位置的物鏡。

5.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，物鏡調節夾具壓圈(2-4)通過沉頭螺釘(2-3)固定于物鏡調節夾具(2-1)上，

6.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述靶標系統組件(6)包括標靶端蓋、靶盤盒、標準靶標(6-5)；其中

標靶端蓋固定于平行光管(3)前端和大積分球(7)輸出端之間，

標靶端蓋沿光線入射方向設置通光孔且沿垂直于光線入射方向設置靶盤盒槽，

靶盤盒設置于靶盤盒槽內且沿光線入射方向設置通光孔，

標準靶標(6-5)設置于靶盤盒內。