[發(fā)明專利]圖像壞行壞列的檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710160168.2
• 申請(qǐng)日: 2017-03-17
• 公開（公告）號(hào): CN106952254A
• 公開（公告）日: 2017-07-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蘆嘉鵬;程杰;趙建波;陳杰;劉志碧
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京思比科微電子技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00
• 代理公司: 北京凱特來知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11260
• 代理人: 鄭立明,鄭哲

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種圖像壞行壞列的檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

隨著半導(dǎo)體芯片技術(shù)的數(shù)字圖像處理技術(shù)的不斷發(fā)展，如今人們可以通過數(shù)碼相機(jī)與手機(jī)可以很方便地獲得高分辨率的視頻或圖片，然而由于設(shè)計(jì)或工藝問題，圖像可能會(huì)出現(xiàn)壞行壞列，影響圖像效果，所以進(jìn)行壞行壞列檢測(cè)尤為重要。

然而，目前還沒有較為有效的方案進(jìn)行壞行壞列檢測(cè)，因此，有必要進(jìn)行深入研究。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種圖像壞行壞列的檢測(cè)方法，其檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確，并且算法簡(jiǎn)單，計(jì)算量小，速度快。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：

一種圖像壞行壞列的檢測(cè)方法，包括：

以N％灰板為背景，連續(xù)采集n幅圖像；

將n幅圖像進(jìn)行平均，得到圖像Im；

分別求取圖像Im水平方向和垂直方向的均值，進(jìn)而求取水平方向與垂直方向的梯度；

分別將水平方向與垂直方向的梯度最大值與閾值進(jìn)行比較，從而檢測(cè)圖像壞行壞列。

所述以N％灰板為背景，連續(xù)采集n幅圖像包括：

在預(yù)定光源下，以N％灰板為背景，將圖像模擬增益調(diào)整至最大的M％，連續(xù)采集n幅圖像；

或者，在純黑環(huán)境下，以N％灰板為背景，將圖像模擬增益調(diào)整至最大的P％，連續(xù)采集n幅圖像；

其中，M<P。

所述將n幅圖像進(jìn)行平均，得到圖像Pm的亮度Im的公式如下：

Im＝(I1+I2+...+In)/n；

其中，I1、I2、In分別表示第1、第2、第n幅圖像的亮度。

分別求取圖像Pm水平方向和垂直方向的均值包括：

水平方向均值的計(jì)算公式為：

垂直方向均值的計(jì)算公式為：

其中，W、H分別為圖像寬度、高度；i、j分別為圖像Pm中像素的列號(hào)、行號(hào)。

所述求取水平方向與垂直方向的梯度包括：

水平方向梯度的計(jì)算公式為：

Gx(j)＝abs(Ix(j)－Ix(j－1))

垂直方向梯度的計(jì)算公式為：

Gy(i)＝abs(Iy(i)－Iy(i－1))；

其中，abs代表求取絕對(duì)值。

所述將水平方向與垂直方向的梯度最大值與閾值進(jìn)行比較，從而檢測(cè)圖像壞行壞列包括：

計(jì)算水平方向的梯度最大值：

MAX_x＝max(Gx(j))；

計(jì)算垂直方向的梯度最大值：

MAX_y＝max(Gy(i))；

如果MAX_x＞T，則說明存在壞列；如果MAX_y＞T，則說明存在壞行。

其中，max代表求取最大值，T為閾值。

由上述本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以看出，通過一系列連續(xù)圖像的均值來計(jì)算水平、垂直方向的梯度，再與閾值進(jìn)行比較，從而對(duì)圖像壞行壞列進(jìn)行檢測(cè)，其檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確，并且算法簡(jiǎn)單，計(jì)算量小，速度快。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他附圖。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種圖像壞行壞列的檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種圖像壞行壞列的檢測(cè)方法的流程圖；如圖1所示，其主要包括如下步驟：

步驟S1、以N％灰板為背景，連續(xù)采集n幅圖像。

本發(fā)明實(shí)施例中，可以采用兩種方式來采集圖像。

1)在預(yù)定光源下(例如，D65光源)，以N％灰板為背景，將圖像模擬增益調(diào)整至最大的M％，連續(xù)采集n幅圖像。

2)在純黑環(huán)境下，以N％灰板為背景，將圖像模擬增益調(diào)整至最大的P％，連續(xù)采集n幅圖像。

其中，M<P。

示例性的，其中的N可以設(shè)置為18，M可以設(shè)置為25，P可以設(shè)置為75。舉例來說，如果圖像模擬增益最大為16倍，則在預(yù)定光源下，圖像模擬增益為4倍；純黑環(huán)境下，圖像模擬增益為12倍。